二手設(shè)備

Agilent 4192A 低阻抗測試儀             

       Agilent4192A低頻阻抗分析儀對諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎(chǔ)電子元件完成網(wǎng)絡(luò)分析和阻抗分析。對浮點接地器件也可加以測試。

       測量信號（23°~±5℃）

       頻率范圍 5Hz~13MHz
頻率步進(jìn) 0.01Hz(5Hz~10kHz);0.01Hz(10kHz~100kHz);  0.1Hz(100kHz~1MHz),1Hz(1MHz~13MHz)
頻率精度 ±50ppm
振蕩器電平 5mV~1.1Vrms可變，50Ω（幅度-相位測量）或開路（阻抗測量）
振蕩器電平步進(jìn) 1mV(5mV~100mV);5mV(100mV~1.1V)
電平監(jiān)視（阻抗測量）：可監(jiān)視穿通電流或端電壓取樣
控制：通過前面板或agilent-IB進(jìn)行點頻和掃頻測量

       阻抗測量：|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,D,Q,Δ,Δ%

       測量方式
定點測量在規(guī)定的頻率（或直流偏壓）上進(jìn)行
掃頻測量從起始頻率到終止頻率（或直流偏壓）的手動或自動掃描（以選擇的步進(jìn)頻率或直流偏壓）
掃描方式線性或?qū)?shù)（只是對頻率）
最大輸出電壓 ±1V
關(guān)鍵狀態(tài)儲存 5種測量狀態(tài)設(shè)置可以在任何時間被存儲和調(diào)用
agilent-IB數(shù)據(jù)輸出和遙控標(biāo)準(zhǔn)
自測試自動自我測量
觸發(fā)內(nèi)部，外部、手動或agilent-IB

       幅度—相位測量
　測量參數(shù)相對幅度B-A（dB）和相位Q（度或弧度），B-A和群延時；絕對幅度A（dBm或dBV)或B（dBm或dBV)
和所有參數(shù)的偏移（Δ，Δ%）
參考幅度 0dBV=1Vrms,0dBm=1mW(50Ω負(fù)載）
振蕩器輸出電阻： 50Ω
通道A和B：輸入阻抗：1MΩ±2%，并聯(lián)電容，25pF±5pF

     測量精度：（23±5℃）：30分鐘預(yù)熱后，在BNC未知終端上的規(guī)定值B-A（相對幅度）和（θ相位）

測量：±0.01dB,±0.05°(-20~0.8dBV輸入，頻率為100~10kHz時） A，B（絕對幅度）

測量： ±0.4dB(-50~0.8dBV輸入，頻率為100~1MHz時

     阻抗測量
　          測量參數(shù) |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,L-D,Q,R,G,C，D,Q,R,G和所有參數(shù)的偏移（Δ，Δ%）
       顯示 4 1/2 位，最大顯示為12999計數(shù)，對L和C是19999
      電路方式串聯(lián)等效電路和并聯(lián)等效電路，可自動選擇
      自動調(diào)零通過按鈕操作使由測試夾具殘余阻抗引起的讀數(shù)偏差自動規(guī)格化（在點頻上）
      測量范圍和精度（23°±5℃）當(dāng)振蕩器電平大于0.1V以及當(dāng)完成自動調(diào)零時，在30分預(yù)熱后，在未知終端        上的規(guī)定值（測試速度：正?；蚱骄┫旅娼o出的精度只在測量得的值等于每個測量范圍的滿刻度時才正確

     |Z|-θ，R-X，|Y|-θ，G-B測量：
參數(shù)測量范圍基本精度
   |Z|、R、X 1.0000Ω~1.000MΩ 0.15%
   |Y|、G、B 10.000μS~10.00S 0.15%
   θ -180.00°~+180.00° 0.08°
   R精度（D≥10）;X精度（D<1)
   G精度（D>1);X精度（D≤0.1)
   L-D?Q,C-D?Q測量：
   參數(shù)測量范圍* 基本精度
   L 0.01nH~1000H 0.27%
   C 1.0000pF~199**mF 0.15%
   D（1/Q） 0.0001~19.999 0.001(C測量）
  0.003(L測量）
  除D（I/Q）外，隨測量頻率變化
  超過100mF時C的精度未作規(guī)定
內(nèi)部直流偏置：標(biāo)準(zhǔn)（只適于阻抗測量）
電壓范圍 -35V~+35V，10mV步進(jìn)
調(diào)節(jié)精度（23°±5℃）調(diào)節(jié)值的5%+5mV
偏置控制：利用面板控制或Agilent-IB進(jìn)行點頻和掃頻

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