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類型:反射式
分辨率測試卡(斜邊ISO 12233:2014)簡介
分辨率測試卡TE275設計用于使用斜邊測量靜態(tài)相機的分辨率。該測試卡在2014年2月發(fā)布的ISO標準12233的修訂版中指定。
在TE268和TE253(正弦西門子星)和TE252(分辨率的視覺評估)旁邊,斜邊是ISO 12233標準中描述的用于分辨率測量的第三種模式。
分辨率測試卡TE275包含九個斜邊結構,每個具有兩個垂直和兩個水平邊緣,并且在中心具有聚焦輔助。傾斜邊緣結構傾斜5?,并具有ISO 12233:2014要求的低對比度(調制在0.55和0.65之間)。背景根據(jù)ISO12233:2014提供0.15和0.25之間漸變。
斜邊以一種方式布置,以在軸向信息上遞送50%場位置(4:3縱橫比)和70%場位置處的信息。
三個黑點可用于目標的自動檢測。這種不對稱布置的結構還有助于檢查和校正目標的取向。
分辨率測試卡TE275可以使用框線和箭頭用于4:3或3:2寬高比。
16個OECF色塊的反射率和排列符合ISO 14524.通過對這些色塊的分析,可以確定OECF并且線性化圖像數(shù)據(jù)。
OECF色塊、背景和斜邊的參考:
| Step | 參考密度 |
| 1 | 1.78 |
| 2 | 1.56 |
| 3 | 1.38 |
| 4 | 1.22 |
| 5 | 1.08 |
| 6 | 0.95 |
| 7 | 0.83 |
| 8 | 0.72 |
| 9 | 0.62 |
| 10 | 0.53 |
| 11 | 0.44 |
| 12 | 0.36 |
| 13 | 0.29 |
| 14 | 0.14 |
| 15 | 0.21 |
| 16 | 0.08 |
| 斜邊 | 1.30 |
| 背景 | 0.70 |
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