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inTEST 安全芯片高低溫沖擊測試
上海伯東美國 inTEST 冷熱沖擊機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等測試機聯(lián)用, 進行安全芯片的高低溫沖擊測試. 實時監(jiān)測安全芯片的真實溫度，可隨時調整沖擊氣流, 對測試機平臺 load board 上的安全芯片進行快速溫度循環(huán)沖擊, 傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試.
安全芯片多用于銀行卡, 門禁卡及物聯(lián)網(wǎng)中, 由于受到工作空間狹小, 芯片接觸面積小, 空氣流通環(huán)境差, 散熱的條件不好等影響,芯片表面可能會經(jīng)歷快速升溫, 并且需要在高溫的環(huán)境中長時間工作; 同時實驗室也會搜集一些芯片的高低溫運行的數(shù)據(jù)做留存資料.所以測試安全芯片在快速變溫過程中的穩(wěn)定性十分必要.
上海伯東安全芯片高低溫測試客戶案例:某半導體公司,安全芯片測試溫度要求 ﹣40℃～105℃, 選用 InTEST ATS-545 與泰瑞達測試機聯(lián)用, 對安全芯片進行快速冷熱沖擊, 設置 12組不同形式的循環(huán)溫度設定,快速得到完整精確的數(shù)據(jù).

示意圖

inTEST ThermoStream ATS-545 技術參數(shù):

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