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    半導體分立器件測試儀

    價格:1000元瀏覽:234次聯(lián)系:陶女士 / 18140663476 / 企業(yè):武漢普賽斯儀表有限公司留言店鋪收藏

    半導體分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應;通常半導體分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復雜又耗時,還占用過多測試臺的空間。而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的不確定度及更慢的總線傳輸速度等缺點。

    實施特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、率先國產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體??勺鳛楠毩⒌暮銐涸椿蚝懔髟?、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數(shù)字源表(SMU)可為高??蒲泄ぷ髡?、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計工程師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉,都能簡單而迅速地得到精確的結(jié)果。詳詢一八一四零六六三四七六;

           半導體分立器件測試儀優(yōu)勢

    性能強大-作為電壓源和或電流源,并同步測量電流和或電壓,支持四象限工作??梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮?,預防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍,全量程測量精度0.03%。

    靈活多樣-支持兩線制和四線制測量,更準確的低內(nèi)阻量測;集成線性階梯掃描、對數(shù)階梯掃描、自定義掃描等模式;專業(yè)l-V特性及半導體參數(shù)測試軟件。

    易學實用-簡化了如I-V和l-t/V-t曲線等各種應用的測量準備工作。電容式觸摸屏圖形用戶界面(GUI)     ,提供圖形化和數(shù)字化兩種測量結(jié)果顯示模式,便于使用和查看。


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    多合一高精密SMU,J致簡化測量

    統(tǒng)的半導體I-V特性測量方案通常是復雜且成本昂貴的,需要多種儀器配合完成測試,對不同儀器進行編程、同步、連接、測量和分析,既復雜又耗時,還需占用大量測試臺空間。

    S系列數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載,其高性能架構(gòu)允許其使用作為波形發(fā)生器、以及自動電流-電壓(I-V)表征系統(tǒng)。極大縮短測試系統(tǒng)的開發(fā)、建立和維護的時間,同時節(jié)省測試架或測試臺的寶貴“空間”,降低購買測試系統(tǒng)的整體成本。


    數(shù)字源表宣傳圖.jpg



    四象限工作,可以作為源或負載

    電源象限是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸形成的象限圖。D一、三象限即電壓電流同向,源表對其它設(shè)備供電,稱為源模式;第二、四象限即電壓電流反向,其它設(shè)備對源表放電,源表被動吸收流入的電流,且可為電流提供返回路徑,稱為阱模式。



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    與傳統(tǒng)矩陣電源不同,S系列源表在同等功率下,客戶可根據(jù)實際需求,選擇大電壓小電流或小電壓大電流輸出。選擇的量程不同,S系列源表的源/阱極限也有區(qū)別。

    源限度-電壓源:

    士10V  (≤3A量程),土30V (≤1A量程),士300V (≤100mA量程)

    源限度-電流源:

    土3.15安(≤10V量程),土1.05安(≤30V量程),士105mA (≤300V量程)


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    輕松滿足常用的測量需求

    觸摸屏幕上的任意圖標,就會出現(xiàn)圖像化設(shè)置屏幕。在測量前按照向?qū)е鹨辉O(shè)置,操作更直觀。




    提供的應用程序

    -   序列掃描

    -   自定義序列

    -   數(shù)據(jù)記錄儀:持續(xù)輸出恒壓源測試模式;持續(xù)輸出恒流源測試模式

    -   APD管

    -   晶體管:MOSFET管測試;三極管測試

    -   LIV:PIN管掃描測試

    -   Gummer:雙臺源表使用同樣參數(shù)進行掃描


    *二極管完整l-V特性曲線


    半導體分立器件測試儀應用領(lǐng)域:

    分立器件特性測試:電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
    能量與效率特性測試:LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器;
    傳感器特性測試:電阻率、霍爾效應等;
    有機材料特性測試:電子墨水、印刷電子技術(shù)等;
    納米材料特性測試:石墨烯、納米線等;
    激光器特性測試:窄脈沖LIV測試系統(tǒng);
    功率器件:靜態(tài)測試系統(tǒng);
    電流傳感器:動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng);


    選擇武漢普賽斯儀表的理由

    武漢普賽斯是國內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家,產(chǎn)品系列豐富:產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產(chǎn)已經(jīng)過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用,SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,直流更大、精度更高、準確度提升至?0.03%,直流電流升級至3A,可為半導體行業(yè)提供更加晶準、穩(wěn)定的測試方案

    半導體分立器件測試儀聯(lián)系我們: 

    單位名稱:武漢普賽斯儀表有限公司

    網(wǎng)站:http://www.whpssins.com.cn

    單位地址:武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)光谷大道308號光谷動力節(jié)能環(huán)保產(chǎn)業(yè)園10棟5樓

    聯(lián)系人:陶女士

    聯(lián)系電話:18140663476/027-87993690

    工作QQ:1993323884

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