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    高頻介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀

    價格:28650元瀏覽:127次聯(lián)系:劉元元 / 15132636097 / 企業(yè):北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司留言店鋪收藏

    高頻介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀  標(biāo)準(zhǔn)配置:

    高配Q表 一只  

    試驗(yàn)電極 一只(c類)

    電感     一套(9只)

    電源線   一條

    說明書   一份

    合格證   一份

    保修卡   一份

    高頻介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀  測試注意事項(xiàng)

     

    a.本儀器應(yīng)水平安放;

     

    b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預(yù)熱30分鐘;

     

    c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,當(dāng)接近諧振點(diǎn)時請緩調(diào);

     

    d.被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;

     

    e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

     

    f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。

    電氣絕緣材料的性能和用途

     1、電介質(zhì)的用途

     電介質(zhì)一般被用在兩個不同的方面:

     用作電氣回路元件的支撐,并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣;

     用作電容器介質(zhì)

    2、影響介電性能的因素

     下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強(qiáng)度對介電性能的影響。

    2.1頻率

     因?yàn)橹挥猩贁?shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的。r和tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。

     電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,最重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的.

    2.2溫度

     損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個最大值,這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的,這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)最大值位置。

    2.3濕度

     極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加,其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗(yàn)前和試驗(yàn)時對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是必不可少的.

     注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)

    2.4電場強(qiáng)度

     存在界面極化時,自由離子的數(shù)目隨電場強(qiáng)度增大而增加,其損耗指數(shù)最大值的大小和位置也隨此而變。

     在較高的頻率下,只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電,電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強(qiáng)度無關(guān)

    工作特性

       1.Q值測量

      a.Q值測量范圍:2~1023;

      b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;

    c.標(biāo)稱誤差

     

    A(高頻)

    C(工頻)

    頻率范圍

    25kHz~10MHz

    100kHz~10MHz

    固有誤差

    ≤5%?滿度值的2%

    ≤5%?滿度值的2%

    工作誤差

    ≤7%?滿度值的2%

    ≤7%?滿度值的2%

    頻率范圍

    10MHz~60MHz

    10MHz~160MHz

    固有誤差

    ≤6%?滿度值的2%

    ≤6%?滿度值的2%

    工作誤差

    ≤8%?滿度值的2%

    ≤8%?滿度值的2%

       2.電感測量范圍

    A

    C

    14.5nH~8.14H

    4.5nH~140mH

    3.電容測量

     

    A

    C

    直接測量范圍

    1~460p

    1~205p

    主電容調(diào)節(jié)范圍

    40~500pF

    18~220pF

    準(zhǔn)確度

    150pF以下?1.5pF;

    150pF以上?1%

    150pF以下?1.5pF

    150pF以上?1%

       注:大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。

       4.信號源頻率覆蓋范圍

        

    A

    C

    頻率范圍

    10kHz~60MHz

    0.1~160MHz

    CH1

    10~99.9999kHz

    0.1~0.999999MHz

    CH2

    100~999.999kHz

    1~9.99999MHz

    CH3

    1~9.99999MHz

    10~99.9999MHz

    CH4

    10~60MHz

    100~160MHz

    頻率指示誤差

    3?10-5?1個字

     

       5.Q合格指示預(yù)置功能:預(yù)置范圍:5~1000

       6.Q表正常工作條件

       a. 環(huán)境溫度:0℃~ 40℃;

       b.相對濕度:<80%;

       c.電源:220V?22V,50Hz?2.5Hz。

       7.其他

       a.消耗功率:約25W;

       b.凈重:約7kg;

       c.外型尺寸:(寬?高?深)mm:380?132?280。

    高頻西林電橋

        這種電橋通常在中等的電壓下工作,是比較靈活方便的一種電橋;通常電容CN是可變的(在高壓電橋中電容CN通常是固定的),比較容易采用替代法。

        由于不期望電容的影響隨頻率的增加而增加,因此仍可有效使用屏蔽和瓦格納接地線路。

    低頻電橋

     一般為高壓電橋,這不僅是由于靈敏度的緣故,也因?yàn)樵诘皖l下正是高電壓技術(shù)特別對電介質(zhì)損耗關(guān)注的問題。電容臂和測量臂兩者的阻抗大小在數(shù)量級上相差很多,結(jié)果,絕大部分電壓都施加在電容Cx和C}上,使電壓分配不平衡 上面給出的電橋平衡條件只是當(dāng)?shù)蛪涸Ω邏涸帘螘r才成立。同時,屏蔽必須接地,以保證平衡穩(wěn)定。如圖A. 2所示。屏蔽與使用被保護(hù)的電容C、和C、是一致的,這個保護(hù)對于Ch來說是必不可少的。

     由于選擇不同的接地方法,實(shí)際上形成了兩類電橋。

    主要特點(diǎn):

    空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的,玻纖介電常數(shù)為5~6,樹脂大約是3,由于樹脂含量,硬化程度,溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差,傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易,尤其是薄膜樣品(小于10 mil)量測值偏低,。

    工程材料:

    離子晶體的損耗

    離子晶體的介質(zhì)損耗與其結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān)。

    緊密結(jié)構(gòu)的晶體離子都排列很有規(guī)則,鍵強(qiáng)度比較大,如α-Al2O3、鎂橄欖石晶體等,在外電場作用下很難發(fā)生離子松弛極化,只有電子式和離子式的位移極化,所以無極化損耗,僅有的一點(diǎn)損耗是由漏導(dǎo)引起的(包括本質(zhì)電導(dǎo)和少量雜質(zhì)引起的雜質(zhì)電導(dǎo))。這類晶體的介質(zhì)損耗功率與頻率無關(guān),損耗角正切隨頻率的升高而降低。因此,以這類晶體為主晶相的陶瓷往往用在高頻場合。如剛玉瓷、滑石瓷、金紅石瓷、鎂橄欖石瓷等

    結(jié)構(gòu)松散的離子晶體,如莫來石(3Al2O3?2SiO2)、董青石(2MgO?2Al2O3?5SiO2)等,其內(nèi)部有較大的空隙或晶格畸變,含有缺陷和較多的雜質(zhì),離子的活動范圍擴(kuò)大。在外電場作用下,晶體中的弱聯(lián)系離子有可能貫穿電極運(yùn)動,產(chǎn)生電導(dǎo)打耗。弱聯(lián)系離子也可能在一定范圍內(nèi)來回運(yùn)動,形成熱離子松弛,出現(xiàn)極化損耗。所以這類晶體的介質(zhì)損耗較大,由這類品體作主晶相的陶瓷材料不適用于高頻,只能應(yīng)用于低頻場合。

    高分子材料的損耗

    高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類。一般地,偶極矩在0~0.5D(德拜)范圍內(nèi)的是非極性高聚物;偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,其介電常數(shù)約為2,介質(zhì)損耗小于10-4;極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,并且極性愈大,這兩個值愈高。

    高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團(tuán)的取向,因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子,雖然這種高聚物的極性很強(qiáng),但只要固化比較完全,它的介質(zhì)損耗就不高。相反,支化使分子鏈間作用力減弱,分子鏈活動能力增強(qiáng),介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。

    高聚物的凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)及力學(xué)狀態(tài)對介電性景響也很大。結(jié)品能抑制鏈段上偶極矩的取向極化,因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結(jié)晶度升高而下降。當(dāng)高聚物結(jié)晶度大于70%時,鏈段上的偶極的極化有時完全被抑制,介電性能可降至最低值,同樣的道理,非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外,高聚物中的增塑利、雜質(zhì)等對介電性能也有很大景響。

    安全措施

    (1)高壓保護(hù):試品短路、擊穿或高壓電流波動,能迅速切斷高壓輸出。

    (2)CVT保護(hù):設(shè)定自激電壓的過流點(diǎn),一旦超出設(shè)置的電流值,儀器自動退出測量,不會損壞設(shè)備。

    (3)接地檢測:儀器有接地檢測功能,未接地時不能升壓測量。

    (4)防誤操作:具備防誤操作設(shè)計(jì),能判別常見接線錯誤,安全報警。

    (5)防“容升”:測量大容量試品時會出現(xiàn)電壓抬高的“容升”效應(yīng),儀器能自動跟蹤輸出電壓,保持試驗(yàn)電壓恒定。

    北廣電性能及橡膠塑料常用儀器
    拉力材料試驗(yàn)機(jī)(電子拉力,金屬材料,非金屬材料,管材,高低溫,液壓伺服拉力試驗(yàn)機(jī))

    電壓擊穿試驗(yàn)儀(介電擊穿強(qiáng)度,固體絕緣材料電氣介電強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī))

    體積表面電阻率測定儀(可測試固體液體膏體粉末材料)
    碳素材料電阻率測試儀
     電線電纜導(dǎo)體半導(dǎo)體材料電阻率測試儀
     橡膠塑料滑動摩擦試驗(yàn)機(jī)(國標(biāo),非國標(biāo),可定制)
     介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀(可測試固體液體)
     學(xué)校專用介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
     高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
     工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
     絕緣材料耐電弧性能試驗(yàn)儀
     液顯熱變形維卡軟化點(diǎn)溫度測定儀
     計(jì)算機(jī)控制熱變形維卡溫度試驗(yàn)機(jī)
     塑料球壓痕硬度計(jì)
     熔體流動速率測定儀/熔融指數(shù)儀
     計(jì)算機(jī)控制馬丁耐熱試驗(yàn)儀

    此會員其它供應(yīng)

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