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日照模擬試驗、日照試驗室、日照環(huán)境模擬、日照試驗模擬、太陽輻射模擬、太陽輻射試驗、太陽輻射模擬試驗、太陽輻射環(huán)境模擬、太陽輻射環(huán)境試驗、惡劣環(huán)境適應性測試環(huán)境模擬、測試環(huán)境、惡劣環(huán)境、老化試驗環(huán)境模擬、高低溫試驗、高低溫環(huán)境、可靠性試驗、太陽模擬、太陽輻射

主要用途：

這是一項對暴露在陽光下的兵器及其制造材料進行的試驗。太陽輻射可引起光化學效應和熱效應。在大多數情況下，這項試驗可以代替高溫試驗。通過日照試驗可檢驗太陽輻射對兵器或有關材料的使用或露天存儲的影響。

太陽輻射試驗（氙燈暴露試驗、碳弧燈暴露試驗、鹵素燈暴露試驗）加熱效應主要是由太陽輻射能中紅外光譜部分產生的,主要引起產品短時高溫和局部過熱,造成一些對溫度敏感的元器件失效,結構材料的機械破壞和絕緣材料的過熱損壞等。

技術參數：
①溫度范圍：RT(室溫) 10℃～63℃，試驗黑板溫度：65℃?3℃ 

②濕度范圍：40%RH～95% RH

③降雨周期：0～240min,間隔(斷)可調

④降雨時間：0～9999min,可調

⑤波長范圍：290nm～800nm輻照強度：550W/m2 

以上參數都可以根據用戶需求進行非標定制。