產(chǎn)品

射頻通道卡的創(chuàng)新架構(gòu)實現(xiàn)了前所未有的多站點和站點內(nèi)并行測量，可對當前和下一代射頻設備進行大批量、低成本測試。

高速增長的無線通信市場帶來了若干嚴峻的測試挑戰(zhàn)。

基于射頻的通信協(xié)議種類繁多，要求測試設備具有高度的通用性和可擴展性，以便為即將到來的新一代 5G 通信提供測試途徑。

這些設備還必須具有低測試成本和高生產(chǎn)率的特點，以便更快地將新集成電路設計推向市場。

ADVANTEST的Wave Scale?一代射頻通道卡使V93000單一可擴展平臺在測試無線通信中使用的幾乎所有射頻和混合信號半導體器件時實現(xiàn)業(yè)界領先的并行性和吞吐量。

這些卡使 V93000 平臺能夠進行高度并行的多站點和站點內(nèi)并行測試，實現(xiàn)前所未有的性能。

一體化測試解決方案

靈活的 Wave Scale 射頻卡能夠測試驅(qū)動 LTE、LTE-Advanced 和 LTE-A Pro 智能手機以及 LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、藍牙和物聯(lián)網(wǎng)無線應用的射頻 SoC。 

除了滿足當前的市場需求外，它還具有可擴展性，可應對未來 5G 網(wǎng)絡的技術(shù)變化。

多站點和現(xiàn)場并行測試

Wave Scale RF 采用先進的架構(gòu)，使其能夠超越傳統(tǒng)射頻測試解決方案的能力。

其他系統(tǒng)每次只對每個站點的一種射頻標準進行測試，而該射頻卡可同時對每個 DUT 內(nèi)的多種標準或多條路徑進行測試。

它將這種獨特的站內(nèi)并行性與八倍站或更多站的測試能力和高多站效率相結(jié)合，大大降低了復雜射頻設備的測試成本。

大批量能力

Wave Scale 射頻卡每個板卡有四個獨立的射頻子系統(tǒng)，可以處理測試無線通信中使用的全部設備所需的單個刺激和測量頻率。

每個射頻子系統(tǒng)都有 8 個端口，可以扇出射頻信號，最多可有 4 個獨立的測量儀器。 

通過這種配置，四個射頻子系統(tǒng)中的每一個都可用于八個站點，同時進行接收器和發(fā)射器測試，所有內(nèi)部射頻路徑也可并行測試。 

該系統(tǒng)每張卡最多可處理 32 個站點，用于物聯(lián)網(wǎng)、藍牙和其他設備。創(chuàng)新的 V93000 測試處理器可控制和同步所有儀器的并行和獨立操作。

該卡的 32 個射頻端口均可支持高達 6 GHz 的 200 MHz 帶寬。此外，內(nèi)部環(huán)回和嵌入式校準標準為系統(tǒng)的高度集成架構(gòu)做出了貢獻。