體積電阻率和表面電阻率測試儀 ; 影響體積電阻率和表面電阻率測試的主要因素是溫度和濕度、電場強度、充電時間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個參數(shù),電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測量常常用來檢查絕緣材料是否均勻,或者用來檢測那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測到的導電雜質(zhì)。
體積電阻率和表面電阻率測試儀 ; 外觀
?顯示采用4.3寸高分辨率TFT屏顯示,操作簡單
? ;機身小巧,功能強大
測試性能卓越
? ;回讀電壓精度0.5%?1V
?絕緣電阻最大精度1%
快速測試
? ;最小測試周期僅需200ms
恒壓測試
? ;采用恒壓測試法快速測量絕緣電阻
 ;
豐富的接口配置
? ;HANDLER口
? ;RS-232接口
? ;以太網(wǎng)接口
? ;U盤接口
供電
? ;198~240 V電源供電
? ;電源頻率47Hz~63Hz
? ;最大功耗50W
說明
?、匐娮杪师巡粌H和導體的材料有關(guān),還和導體的溫度有關(guān)。在溫度變化不大的范圍內(nèi),幾乎所有金屬的電阻率隨溫度作線性變化,即ρ=ρo(1 at)。式中t是攝氏溫度,ρo是O℃時的電阻率,a是電阻率溫度系數(shù)。
?、谟捎陔娮杪孰S溫度改變而改變,所以對于某些電器的電阻,必須說明它們所處的物理狀態(tài)。如一個220V
100W電燈燈絲的電阻,通電時是484歐姆,未通電時只有40歐姆左右。
?、垭娮杪屎碗娮枋莾蓚€不同的概念。電阻率是反映物質(zhì)對電流阻礙作用的屬性,電阻是反映物體對電流阻礙作用的屬性。
根據(jù)高溫塑料薄膜的測試需求(溫度適應性、測量精度、樣品兼容性等),以下是選型要點:
一、核心選型要素
測量原理與精度
三電極法:符合GB/T 10518-2006標準,適合絕緣材料高溫電阻率測試。
四探針法:適用于薄膜類材料,可測方塊電阻和電阻率,支持溫度-電阻曲線分析。
電阻范圍:至少覆蓋10~101Ω,高阻值段(>;1012Ω)誤差需≤?20%。
樣品兼容性
夾具要求:薄膜樣品直徑應≥100mm(不足需定制電極)。
測試方式:表面電阻與體積電阻需分開測量,且必須先測表面電阻。
二、推薦對比
溫度范圍 測量原理 關(guān)鍵優(yōu)勢 適用標準
-160℃~500℃三電極法支持介質(zhì)損耗/介電常數(shù)測試,控溫精度?0.5℃GB/T 1409、ASTM D150
高溫真空/氣氛環(huán)境三環(huán)電極法 鉑導線防信號衰減,觸摸屏操作便捷GB/T 10518、ASTM
高溫箱集成 四探針法自動繪制溫度-電阻率曲線,適合導電薄膜分析半導體材料標準
未明確高溫范圍11通用法觸控操作,支持固體/液體/薄膜,  ; ;GB/T 1410、ASTM D25711
三、操作注意事項
試樣預處理:確保薄膜表面平整、無損傷,避免雜質(zhì)干擾。
環(huán)境控制:多數(shù)儀器工作環(huán)境為0℃~40℃ . . . ,高溫測試需外接溫控設(shè)備。
數(shù)據(jù)校準:定期校驗儀器,高阻值(>;1012Ω)段需重點驗證精度。
產(chǎn)品特點:
本儀器具有精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便,適用于防靜電產(chǎn)品 如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防樹脂云母體積表面電阻率測試儀靜電活動地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器除能測電阻外,還能直接測量電流如電子器件暗電流等
典型應用
1.硫化橡膠體積、表面電阻率測定
2.測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值
3.測量防靜電材料的電阻及電阻率
4.測量計算機房用活動地板的系統(tǒng)電阻值
5.測量絕緣材料電阻(率)
6.光電二極管暗電流測量
7.物理,光學和材料研究
8.高分子材料表面體積電阻率測定
溫度和濕度:固體絕緣材料的絕緣電阻率隨溫度和濕度的升高而降低,特別是體積電阻率隨溫度改變而變化非常大。因此,電瓷材料不但要測定常溫下的體積電阻率,而且還要測定高溫下的體積電阻率,以評定其絕緣性能的好壞。由于水的電導大,隨著濕度增大,表面電阻率和有開口孔隙的電瓷材料的體積電阻率急劇下降。因此,測定時應嚴格地按照規(guī)定的試樣處理要求和測試的環(huán)境條件下進行。
條件處理和測試條件的規(guī)定:固體絕緣材料的電阻隨溫度、濕度的增加而下降。試樣的預處理條件取決于被測材料,這些條件在材料規(guī)范中規(guī)定。推薦使用GB10580《固體絕緣材料在試驗前和試驗時采用的標準條件》中規(guī)定的預處理方法。可使用甘油—水溶液潮濕箱進行濕度預處理。測試條件應與預處理條件盡可能地一致,有些時候(如浸水處理)不能保持預處理條件和測試條件一致時,則應在從預處理環(huán)境中取出后在盡可能短時間內(nèi)完成測試,一般不超過5分鐘。
參數(shù)
一般功能:
測量參數(shù) ;絕緣電阻R,泄漏電流I,表面電阻Rs,體積電阻Rv
測試電壓1-1000v  ;1000個檔位可以調(diào)
測試范圍 ;電阻5*102Ω~1*1016Ω(超出顯示電流最大換算可到20次方), 電阻率最高可達到1022Ω.cm
測量方式:手動/自動兩種
界面語言選擇:英文/中文 兩種
顯示位數(shù):4/5位  ;兩種選擇
測量模式:三種
測試速度可選擇 ; ;快速5次/秒,慢速1次/秒,兩種可選
回讀電壓精度 ;0.5%?1V
測試特點:帶設(shè)置記憶功能開機一鍵測試出結(jié)果不用反復設(shè)置
可設(shè)定測量延時和放電延時
十種自定義測量模式可以用戶自己編輯開機直接調(diào)取滿足不同材料的測試需求
量程超限顯示 ;量程上超
輸入端子 ;香蕉插頭,BNC插頭
精度保證期 ;1年 根據(jù)計量證書有效期 ; ;可在全國任意檢測所檢測精度保證 ;
操作溫度和濕度0℃到40℃80%RH以下(無凝結(jié))
存儲溫度和濕度-10℃到60℃80%RH以下(無凝結(jié))
操作環(huán)境 ;室內(nèi),最高海拔2000m
電源 ;電壓:110V/ ;220V AC頻率:47Hz/63Hz ;兩種供電模式
功耗 ;50 W
尺寸 ;約331 mm x 329 mm x 80 mm
重量 ;約4.1kg
 ;
高溫四探針電阻測試儀是一種專門用于測量材料在高溫環(huán)境下電阻率/方阻的精密設(shè)備,其應用場景主要集中在需要高溫、高精度電阻測量的領(lǐng)域。以下是其主要應用場景:
1.半導體材料與器件
半導體晶圓測試 ;:測量硅片、碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等半導體材料在高溫下的電阻率,評估材料性能。
功率器件開發(fā) ;:用于IGBT、MOSFET等功率電子器件的高溫導電性能測試,模擬實際工作環(huán)境。
薄膜材料 ;:測量高溫沉積的導電薄膜(如ITO、金屬薄膜)的方阻,優(yōu)化鍍膜工藝。
2.新能源材料
鋰離子電池材料 ;:
正極/負極材料的高溫電阻測試(如鈷酸鋰、磷酸鐵鋰、石墨等),研究材料在高溫下的導電穩(wěn)定性。
固態(tài)電解質(zhì)材料的離子電導率評估。
燃料電池 ;:測試質(zhì)子交換膜、電極材料在高溫下的電阻特性。
3.高溫超導材料
測量超導材料在臨界溫度附近的電阻變化,研究超導轉(zhuǎn)變特性。
4.陶瓷與玻璃材料
高溫結(jié)構(gòu)陶瓷(如氧化鋁、氮化硅)的絕緣性能測試。
導電陶瓷(如氧化鋅壓敏電阻)的電阻溫度特性分析。
5.金屬與合金
高溫合金(如鎳基合金、鈦合金)的電阻率測量,用于航空航天發(fā)動機部件材料評估。
金屬熔體(如液態(tài)金屬)的電阻率在線監(jiān)測。
6.科研與新材料開發(fā)
新型功能材料(如鈣鈦礦、拓撲絕緣體)的高溫電學性能研究。
材料熱穩(wěn)定性測試,模擬極端環(huán)境(如航天、核工業(yè))下的電阻變化。
7.工業(yè)質(zhì)量控制
生產(chǎn)線上對耐高溫電子元件(如高溫傳感器、加熱元件)的電阻一致性檢測。
燒結(jié)工藝過程中材料的實時電阻監(jiān)控,優(yōu)化燒結(jié)曲線。
技術(shù)特點
高溫范圍 ;:通常支持室溫~1000℃甚至更高(依賴爐體設(shè)計)。
四探針法 ;:消除接觸電阻影響,適合高阻、低阻材料。
自動化集成 ;:可與探針臺、真空系統(tǒng)聯(lián)用,實現(xiàn)原位測試。
典型行業(yè)
半導體制造、新能源電池廠、材料研究所、航空航天實驗室、高等院校等。
如果需要更具體的場景(如某類材料的測試標準或設(shè)備選型建議),可以進一步補充說明!
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