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    絕緣材料介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀

    絕緣材料介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀

    價格:36500元瀏覽:112次聯(lián)系:劉圓圓 / 18932620538 / 企業(yè):河北紅日儀器設(shè)備有限公司留言店鋪收藏

    絕緣材料介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀 ;  ;Q值測量

    a.Q值測量范圍:2~1023。

    b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

    c.標(biāo)稱誤差

     ; ; ; ; ;頻率范圍(100kHz~10MHz): 頻率范圍(10MHz~160MHz):

     ; ; ; ; ;固有誤差:≤5%?滿度值的2%固有誤差:≤6%?滿度值的2%

     ; ; ; ; ;工作誤差:≤7%?滿度值的2%工作誤差:≤8%?滿度值的2%

    絕緣材料介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀 ;  ;介質(zhì)損耗:絕緣材料在電場作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡稱介損。在交變電場作用下,電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角δ稱為介質(zhì)損耗角。

    損耗因子也指耗損正切,是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗(耗散的能量)的量度,一般情況下都期望耗損因子低些好。

    正常工作條件

    a.  ;環(huán)境溫度:0℃~ 40℃;

    b.相對濕度:<;80%;

    c.電源:220V?22V,50Hz?2.5Hz。

    7.其他

    a.消耗功率:約25W;

    b.凈重:約7kg;

    c.外型尺寸:(l?b?h)mm:380?132?280。

    諧振法在描述較多,利用LC回路諧振特性,更適合高頻場景。用戶可能特別關(guān)注應(yīng)用場景的區(qū)別,這在實(shí)際工作中很重要。比如電力設(shè)備檢測常用電橋法(如西林電橋),而高頻電路基板測試可能選諧振法。需要強(qiáng)調(diào)頻率適用性這個關(guān)鍵差異點(diǎn)。

    介電常數(shù),用于衡量絕緣體儲存電能的性能.它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質(zhì)時的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質(zhì)或真空時的電容量之比。介電常數(shù)代表了電介質(zhì)的極化程度,也就是對電荷的束縛能力,介電常數(shù)越大,對電荷的束縛能力越強(qiáng)。電容器兩極板之間填充的介質(zhì)對電容的容量有影響,而同一種介質(zhì)的影響是相同的,介質(zhì)不同,介電常數(shù)不同。

    日常生活應(yīng)用?

    00001. ;?音響設(shè)備維修?

    ? ;?案例?:檢測老化電阻阻值,精準(zhǔn)替換損壞元件恢復(fù)音質(zhì)。

    00002. ;?電子秤應(yīng)變檢測?

    ? ;?原理?:應(yīng)變片構(gòu)成惠斯通電橋一臂,形變導(dǎo)致電阻變化,輸出重量信號。

    ? ;?場景?:超市計價秤、工廠物料配比系統(tǒng)。

    工業(yè)檢測與控制?

    00001. ;?壓力傳感器(MEMS技術(shù))?

    ? ;?原理?:硅薄膜上集成惠斯通電橋,受壓時壓敏電阻變化打破電橋平衡。

    ? ;?應(yīng)用?:汽車胎壓監(jiān)測、工業(yè)過程控制,實(shí)時輸出壓力信號。

    00002. ;?可燃?xì)怏w濃度檢測?

    ? ;?原理?:催化燃燒式傳感器中電橋一臂涂催化劑,可燃?xì)怏w燃燒致電阻變化,電橋失衡輸出信號。

    ? ;?應(yīng)用?:煤礦、化工廠安全預(yù)警系統(tǒng)。

    00003. ;?絕緣材料老化診斷?

    ? ;?工具?:西林電橋測量介質(zhì)損耗角正切()。

    ? ;?場景?:高壓變壓器油紙絕緣狀態(tài)評估,tan升高提示受潮或劣化。

    電橋法應(yīng)用案例"。之前的對話歷史顯示用戶已經(jīng)了解電橋法和高頻介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀的區(qū)別,現(xiàn)在轉(zhuǎn)向?qū)嶋H應(yīng)用場景。

    首先看搜索結(jié)果中的案例分布。提到朋友用惠斯通電橋檢測音響老化電阻的實(shí)例,非常生活化;詳細(xì)說明了MEMS壓力傳感器中的惠斯登電橋結(jié)構(gòu),屬于工業(yè)應(yīng)用;和聚焦教學(xué)場景,提到高考物理的電橋法測電阻題型;列舉了多個領(lǐng)域如光學(xué)參數(shù)測量和化學(xué)反應(yīng)監(jiān)測;描述了可燃?xì)怏w檢測和電子秤的應(yīng)變片應(yīng)用;對比了惠斯通和凱爾文電橋的適用場景;和則專門講西林電橋在絕緣材料tanδ測量的案例;補(bǔ)充了介電常數(shù)測量的干擾因素。

    這些案例需要分類整理。工業(yè)檢測類最豐富:壓力傳感器()、可燃?xì)怏w檢測()、絕緣老化診斷()都值得單獨(dú)列出。日常生活類只有的音響維修案例比較完整,可以補(bǔ)充的電子秤案例??蒲薪虒W(xué)類中,的高考實(shí)驗(yàn)和的光學(xué)測量都符合要求。

    特別注意幾個專業(yè)應(yīng)用:提到的布里淵電橋測光纖壓力比較冷門但技術(shù)性強(qiáng),的西林電橋介質(zhì)損耗測量需要強(qiáng)調(diào)溫度補(bǔ)償(參考的干擾因素)。案例排序上,把用戶可能最關(guān)心的工業(yè)檢測放前面,教學(xué)和科研放后面更合理。

    對于引用格式,每個案例要嚴(yán)格對應(yīng)來源。比如西林電橋的兩種接線方式來自,而溫度影響數(shù)據(jù)要關(guān)聯(lián)。避免重復(fù)引用同一網(wǎng)頁,像既用于可燃?xì)怏w檢測又用于電子秤時需拆分說明。

    結(jié)構(gòu)損耗

    在高頻電場和低溫下,有一類與介質(zhì)內(nèi)鄰結(jié)構(gòu)的緊密度密切相關(guān)的介質(zhì)損耗稱為結(jié)構(gòu)損耗。這類損耗與溫度關(guān)系不大,耗功隨頻率升高而增大。

    試驗(yàn)表明結(jié)構(gòu)緊密的晶體成玻璃體的結(jié)構(gòu)損耗都很小,但是當(dāng)某此原因(如雜質(zhì)的摻入、試樣經(jīng)淬火急冷的熱處理等)使它的內(nèi)部結(jié)構(gòu)松散后。其結(jié)構(gòu)耗就會大大升高。

    頻率適用范圍?

    ?方法?

    ?適用頻率范圍?

    ?原因?

    電橋法

    20Hz~MHz(中低頻段)

    高頻時雜散電容和殘余電感導(dǎo)致橋路平衡困難,精度下降。

    諧振法

    MHz~GHz(高頻段)

    電路結(jié)構(gòu)簡單,分布參數(shù)影響小,更適合高頻測量。

    西林電橋是測量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的最經(jīng)典的裝置。它可使用從低于工頻(50 Hz-60 Hz)直至100 kHz的頻率范圍,通常測定50 pF-1 000 pF的電容(試樣或被試設(shè)備通常所具有的電容)這是一個四臂回路(圖A. 1)。其中兩個臂主要是電容(未知電容Cx和一個無損耗電容C,)。另外兩臂(通常稱之為測量臂)由無感電阻R,和R:組成,電阻R,在未知電容Cx的對邊上,測量臂至少被一個電容C,分流 一般地說,電容C:和兩個電阻R,和R:中的一個是可調(diào)的。

     ; ; ; ;如果采用電阻R、和(純)電容C的串聯(lián)等值回路來表示電容Cx,則圖A. 1所示的電橋平衡時導(dǎo)出:

     ; ; ; ; ; ; ;R1

    Cs=Cn?——

     ; ; ; ; ; ; ;R2

    和tanδx=ωCSRS=ωC1R1

    如果電阻R2被一個電容C2分流,則tanδ ;=的公式變?yōu)椋?/p>

    Tanδx=ωC1R1---ωC2R2

    由于頻率范圍的不同,實(shí)際上電橋構(gòu)造會有明顯的不同。例如一個50 pF-1 000 pF的電容在50 Hz時的阻抗為60 MΩ-3 MΩ,在100 kHz時的阻抗為3 000Ω-1 500Ω.

    頻率為100 kHz時,橋的四個臂容易有相同數(shù)量級的阻抗,而在50 Hz-60 Hz的頻率范圍內(nèi)則是不可能的。因此,出現(xiàn)了低頻和(相對)高頻兩種不同形式的電橋.

    標(biāo)準(zhǔn)配置:

    高配Q表 一只  ;

    試驗(yàn)電極 ;一只(c類)

    電感 ; ; ; ; ;一套(9只)

    電源線 ; ; ;一條

    說明書 ; ; ;一份

    合格證 ; ; ;一份

    保修卡 ; ; ;一份

    測試注意事項(xiàng)

    a.本儀器應(yīng)水平安放;

    b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預(yù)熱30分鐘;

    c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,當(dāng)接近諧振點(diǎn)時請緩調(diào);

    d.被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;

    e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

    f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。

    宏觀結(jié)構(gòu)不均勾性的介質(zhì)損耗

    工程介質(zhì)材料大多數(shù)是不均勻介質(zhì)。例如陶瓷材料就是如此,它通常包含有晶相、玻璃相和氣相,各相在介質(zhì)中是統(tǒng)計分布口。由于各相的介電性不同,有可能在兩相間積聚了較多的自由電荷使介質(zhì)的電場分布不均勻,造成局部有較高的電場強(qiáng)度而引起了較高的損耗。但作為電介質(zhì)整體來看,整個電介質(zhì)的介質(zhì)損耗必然介于損耗最大的一相和損耗最小的一相之間。

     ;

    影響介電性能的因素

     ;下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強(qiáng)度對介電性能的影響。

    2.1頻率

     ;因?yàn)橹挥猩贁?shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的。r和tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。

     ;電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,最重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的.

    2.2溫度

     ;損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個最大值,這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的,這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)最大值位置。

    2.3濕度

     ;極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加,其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗(yàn)前和試驗(yàn)時對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是必不可少的.

     ;注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)

    2.4電場強(qiáng)度

     ;存在界面極化時,自由離子的數(shù)目隨電場強(qiáng)度增大而增加,其損耗指數(shù)最大值的大小和位置也隨此而變。

     ;在較高的頻率下,只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電,電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強(qiáng)度無關(guān)

    我廠主要產(chǎn)品有:拉力材料試驗(yàn)機(jī),海綿泡沫落球回彈試驗(yàn)機(jī),海綿泡沫壓陷硬度測驗(yàn)儀,海綿泡沫疲勞壓陷試驗(yàn)機(jī),熔融指數(shù)儀,塑料滑動摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),電壓擊穿試驗(yàn)儀,塑料球壓痕硬度計,馬丁耐熱試驗(yàn)儀,海綿泡沫拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī),介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀,電容率測試儀,體積表面積電阻率測試儀,低溫脆性沖擊試驗(yàn)儀,維卡熱變形試驗(yàn)儀,啞鈴制樣機(jī),阿克隆磨耗試驗(yàn)機(jī),簡支梁沖擊試驗(yàn)機(jī),懸臂梁沖擊試驗(yàn)機(jī),熔體流動速率儀,無轉(zhuǎn)子硫化儀等。

     ;想了解其它相關(guān)信息,歡迎登錄北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司網(wǎng)站或電詢我們相關(guān)人員。

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