產(chǎn)品

高頻介質(zhì)損耗測試儀國產(chǎn) ；  ；高頻介質(zhì)損耗測試儀的特點(diǎn)及原理：高頻介質(zhì)損耗測試儀具備寬頻率范圍（20Hz-1MHz甚至更高），采用高精度LCR測量電路和24位AD轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)微伏級信號分辨，配備溫控模塊支持-40℃至200℃溫度范圍。儀器具備多重保護(hù)機(jī)制，包括輸入電壓波動、輸出短路、過壓過流保護(hù)等安全特性。此外，測試儀還能測量電感量和品質(zhì)因數(shù)等參數(shù)，并支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲和管理功能。

高頻介質(zhì)損耗測試儀國產(chǎn) ； 頻率范圍

10kHz～50MHz

頻率分段

(虛擬)

10～99.9999kHz

100～999.999kHz

1～9.99999MHz

10～60MHz  ；

典型應(yīng)用場景

電力設(shè)備：評估高壓電纜、電容器、變壓器絕緣材料的溫升特性。

電子材料：分析高頻電路基板、陶瓷電容器的介電性能。

科研領(lǐng)域：研究復(fù)合材料、納米材料在不同溫度/頻率下的極化機(jī)制。

高頻介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀通過電橋法和諧振法的融合設(shè)計(jì)，結(jié)合寬頻、高精度及溫控功能，成為材料介電特性研究的核心設(shè)備

介電常數(shù)，用于衡量絕緣體儲存電能的性能.它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質(zhì)時的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質(zhì)或真空時的電容量之比。介電常數(shù)代表了電介質(zhì)的極化程度，也就是對電荷的束縛能力，介電常數(shù)越大，對電荷的束縛能力越強(qiáng)。電容器兩極板之間填充的介質(zhì)對電容的容量有影響，而同一種介質(zhì)的影響是相同的，介質(zhì)不同，介電常數(shù)不同。

介質(zhì)損耗（dielectric loss）指的是絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也

叫介質(zhì)損失，簡稱介損。

介質(zhì)損耗因數(shù)（dielectric loss factor）指的是衡量介質(zhì)損耗程度的參數(shù)。

典型操作步驟（以諧振法為例）

?初始化?：開機(jī)后設(shè)置目標(biāo)頻率（如13.56MHz），夾具清零。

?樣品放置?：確保樣品面積大于電極，避免空氣間隙影響精度。

?諧振調(diào)節(jié)?：旋轉(zhuǎn)電容旋鈕至Q值峰值，系統(tǒng)自動計(jì)算介電常數(shù)。

?數(shù)據(jù)記錄?：軟件直接輸出ε和tanδ，支持溫度/偏壓等參數(shù)聯(lián)動分析。

應(yīng)用領(lǐng)域

?電子制造?：評估PCB基板、電容介質(zhì)材料的高頻性能。

?新材料研發(fā)?：優(yōu)化高分子、納米材料的極化特性。

?質(zhì)量控制?：檢測陶瓷、云母等絕緣材料的批次一致性

陶瓷材料的損耗

陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來源于電導(dǎo)損耗、松弛質(zhì)點(diǎn)的極化損耗和結(jié)構(gòu)損耗。此外，表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電

 ；

導(dǎo)也會引起較大的損耗。

在結(jié)構(gòu)緊密的陶瓷中，介質(zhì)損耗主要來源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能，往往在配方中引人此易熔物質(zhì)（如黏土），形成玻璃相，這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大，介質(zhì)損耗也增大。因面一般高頻瓷，如氧化鋁瓷、金紅石等很少含有玻璃相。大多數(shù)電陶瓷的離子松弛極化損耗較大，主要的原因是：主晶相結(jié)構(gòu)松散，生成了缺固濟(jì)體、多品型轉(zhuǎn)變等。

Q值測量

 ； ； ；a．Q值測量范圍：2～1023。

 ； ； ；b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

 ；c．標(biāo)稱誤差

頻率范圍20kHz～10MHz；

固有誤差≤5％

工作誤差≤7％

頻率范圍10MHz～60MHz；

固有誤差≤6％

工作誤差≤8％

介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失，簡稱介損。在交變電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角（功率因數(shù)角Φ）的余角δ稱為介質(zhì)損耗角。

損耗因子也指耗損正切，是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗（耗散的能量）的量度，一般情況下都期望耗損因子低些好。

諧振法（Q表法）

基于LC諧振回路 原理：當(dāng)樣品置于諧振電路時，其介電特性改變會導(dǎo)致 諧振頻率偏移 或 品質(zhì)因數(shù)（Q值）變化，通過測量Q值或頻率偏移量推算ε和tan。

適用于MHz-GHz高頻段 的薄膜、液體材料測試

注：不同儀器需根據(jù)樣品形態(tài)（固體/液體）、頻率范圍及精度需求選擇，具體操作需參考設(shè)備說明書。

主要特點(diǎn)

寬頻帶測試能力

支持20Hz至1MHz甚至更高頻率范圍（部分型號可達(dá)GHz級），滿足材料在不同頻段的介電特性分析需求。

高精度測量

采用高精度LCR測量電路 與24位AD轉(zhuǎn)換器，實(shí)現(xiàn)微伏級信號分辨能力，介電常數(shù)誤差≤?0.1%，tanδ誤差≤?0.01%。

溫度可控測試

集成溫控模塊（-40℃至200℃），通過PID算法精確控制樣品溫度，模擬材料在不同工況下的性能。

多重安全保護(hù)

具備輸入電壓波動、輸出短路、過壓/過流保護(hù)及接地檢測功能，確保高壓測試安全。

多功能參數(shù)測量

除ε和tanδ外，可同步測量 . 電容量（Cx）、電感量（Lx）、品質(zhì)因數(shù)（Q） 等參數(shù)。

智能化數(shù)據(jù)處理

支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲、U盤導(dǎo)出及報(bào)告生成，部分型號配備大屏中文菜單操作界面。

漏導(dǎo)損耗

實(shí)際使用中的絕緣材料都不是完善的理想的電介質(zhì)，在外電場的作用下，總有一些帶電粒子會發(fā)生移動而引起微弱的電流，這種微小電流稱為漏導(dǎo)電流，漏導(dǎo)電流流經(jīng)介質(zhì)時使介質(zhì)發(fā)熱而損耗了電能。這種因電導(dǎo)而引起的介質(zhì)損耗稱為“漏導(dǎo)損耗”。由于實(shí)阿的電介質(zhì)總存在一些缺陷，或多或少存在一些帶電粒子或空位，因此介質(zhì)不論在直流電場或交變電場作用下都會發(fā)生漏導(dǎo)損耗。

高分子材料的損耗

高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類。一般地，偶極矩在0~0.5D（德拜）范圍內(nèi)的是非極性高聚物；偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗，其介電常數(shù)約為2，介質(zhì)損耗小于10-4；極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗，并且極性愈大，這兩個值愈高。

高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團(tuán)的取向，因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子，雖然這種高聚物的極性很強(qiáng)，但只要固化比較完全，它的介質(zhì)損耗就不高。相反，支化使分子鏈間作用力減弱，分子鏈活動能力增強(qiáng)，介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。

高聚物的凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)及力學(xué)狀態(tài)對介電性景響也很大。結(jié)品能抑制鏈段上偶極矩的取向極化，因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結(jié)晶度升高而下降。當(dāng)高聚物結(jié)晶度大于70%時，鏈段上的偶極的極化有時完全被抑制，介電性能可降至最低值，同樣的道理，非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外，高聚物中的增塑利、雜質(zhì)等對介電性能也有很大景響。

介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失，簡稱介損。在交變電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角（功率因數(shù)角Φ）的余角δ稱為介質(zhì)損耗角。

損耗因子也指耗損正切，是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗（耗散的能量）的量度，一般情況下都期望耗損因子低些好。

電感：

線圈號 ； ； ；測試頻率 ； ； ；Q值  ； ； ；分布電容p  ； ； ； ； ； ；電感值  ；

 ； ；9  ； ； ； ； ； ； ； ；100KHz  ； ； ； ； ；98  ； ； ； ； ； ；9.4  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；25mH

 ； ；8  ； ； ； ； ； ； ； ；400KHz  ； ； ； ；138  ； ； ； ； ； ；11.4  ； ； ； ； ； ； ；4.87mH

 ； ；7  ； ； ； ； ； ； ； ；400KHz  ； ； ；202  ； ； ； ； ； ；16  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；0.99mH

 ； ；6  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；1MHz  ； ； ； ；196  ； ； ； ； ； ；13  ； ； ； ； ； ； ； ； ；252μH

 ； ；5  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；2MHz  ； ； ； ；198  ； ； ； ； ； ；8.7  ； ； ； ； ； ； ；49.8μH

 ； ；4  ； ； ； ； ； ； ； ；4.5MHz  ； ； ；231  ； ； ； ； ； ；7  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；10μH

 ； ；3  ； ； ； ； ； ； ； ； ；12MHz  ； ； ； ； ；193  ； ； ； ；6.9  ； ； ； ； ； ； ； ；2.49μH

 ； ；2  ； ； ； ； ； ； ； ； ；12MHz  ； ； ； ； ；229  ； ； ； ；6.4  ； ； ； ； ； ； ；0.508μH  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；

 ； ；1  ； ；25MHz，50MHz  ； ；233，211  ； ； ；0.9  ； ； ； ； ； ；0.125μH

電橋測量靈敏度

 ； ； ； ；電橋在使用過程中，靈敏度直接影響電橋平衡的分辨程度，為保證測量準(zhǔn)確度，

希望電橋靈敏度達(dá)到一定的水平。通常情況下電橋靈敏度與測量電壓，標(biāo)準(zhǔn)電容量

成正比。

 ； ； ； ；在下面的計(jì)算公式中，用戶可根據(jù)實(shí)際使用情況估算出電橋靈敏度水平，在這

個水平上的電容與介質(zhì)損耗因數(shù)的微小變化都能夠反應(yīng)出來。

 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1 Rg/R4 Cn/Cx)  ； ；

 ； ； ； ； ； ； ； ； ；式中：Ｕ為測量電壓 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；伏特（Ｖ）

ω為角頻率2pf=314(50Hz)  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；

 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；Ｃｎ標(biāo)準(zhǔn)電容器容量 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；皮法（pＦ）

 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；Ｉｇ通用指另儀的電流5X10-10  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；安培（Ａ）

 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；Ｒｇ平衡指另儀內(nèi)阻約1500  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；歐姆（W）

 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；Ｒ４橋臂R4電阻值3183  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；歐姆（W）

 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；Ｃｘ被測試品電容值 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；皮法（ｐF）

標(biāo)準(zhǔn)配置：

高配Q表 一只  ；

試驗(yàn)電極 ；一只（c類）

電感 ； ； ； ； ；一套（9只）

電源線 ； ； ；一條

說明書 ； ； ；一份

合格證 ； ； ；一份

保修卡 ； ； ；一份

測試注意事項(xiàng)

a．本儀器應(yīng)水平安放；

b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預(yù)熱30分鐘；

c．調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時，當(dāng)接近諧振點(diǎn)時請緩調(diào)；

d．被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短，足夠粗，并應(yīng)接觸良好、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差

；

e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；

f．手不得靠近試件，以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。

電氣絕緣材料的性能和用途

 ；1、電介質(zhì)的用途

 ；電介質(zhì)一般被用在兩個不同的方面:

 ；用作電氣回路元件的支撐，并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣；

 ；用作電容器介質(zhì)

2、影響介電性能的因素

 ；下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強(qiáng)度對介電性能的影響。

2.1頻率

 ；因?yàn)橹挥猩贁?shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的。r和tans幾乎是恒定的，且被用作工程電介質(zhì)材料，然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。

 ；電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生，最重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的.

2.2溫度

 ；損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個最大值，這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的，這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)最大值位置。

2.3濕度

 ；極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加，其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗(yàn)前和試驗(yàn)時對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是必不可少的.

 ；注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)

2.4電場強(qiáng)度

 ；存在界面極化時，自由離子的數(shù)目隨電場強(qiáng)度增大而增加，其損耗指數(shù)最大值的大小和位置也隨此而變。

 ；在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電，電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強(qiáng)度無關(guān)

售后服務(wù)

一、安裝調(diào)試：協(xié)助試驗(yàn)機(jī)的安裝，負(fù)責(zé)試驗(yàn)機(jī)的運(yùn)輸、調(diào)試。

二、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)機(jī)按訂貨技術(shù)附件進(jìn)行驗(yàn)收。終驗(yàn)收在買方進(jìn)行，對用戶提供的試樣進(jìn)行試驗(yàn)，并提供測試報(bào)告。

三、培訓(xùn)：安裝調(diào)試同時，在儀器操作現(xiàn)場一次性免費(fèi)培訓(xùn)操作人員2-3名，該操作人員應(yīng)是由需方選派的長期穩(wěn)定的員工，培訓(xùn)后能夠?qū)υO(shè)備基本原理、軟件使用、操作、維護(hù)事項(xiàng)理解和應(yīng)用，使人員能夠獨(dú)立操作設(shè)備對樣品進(jìn)行檢測、分析，同時能進(jìn)行基本的維護(hù)。

四、軟件升級：終生免費(fèi)提供新版本控制軟件。