產(chǎn)品

高溫塑料薄膜電阻率測定儀恒溫范圍選擇方法

 ；高溫塑料薄膜電阻率測定儀

鉑薄膜RTD最高可測850℃，但塑料薄膜基材通常承受不了這么高溫度。這說明恒溫范圍選擇要先考慮材料耐溫性，而非儀器極限值。

比如聚酰亞胺薄膜通常不超過400℃，而PE薄膜測試溫度可能只需80-120℃。

需要分三個維度建議：材料特性（分解溫度/相變點(diǎn)）、測試目的（質(zhì)量控制/科研）、環(huán)境要求（氣氛保護(hù)）。尤其要提醒用戶注意

GB/T 1410標(biāo)準(zhǔn)中要求的預(yù)處理溫度和時間，這些都會影響恒溫范圍設(shè)定。

選擇高溫塑料薄膜電阻率測定儀的恒溫范圍需綜合材料特性、測試標(biāo)準(zhǔn)及儀器性能，具體方法如下：

 ；一、根據(jù)材料特性選擇材料耐溫上限

常見塑料薄膜（如PI、PET、PEI）的軟化點(diǎn)通常為 . 200℃~400℃ . ，測試溫度應(yīng)低于材料分解溫度20~50℃，避免形變或性能劣化

影響數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。

例如：聚酰亞胺（PI）薄膜建議恒溫范圍 ≤350℃。

相變點(diǎn)或玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg）

測試溫度需覆蓋材料關(guān)鍵相變點(diǎn)（如Tg、熔點(diǎn)），例如研究導(dǎo)電薄膜時需包含 . 室溫~200℃ . 區(qū)間以觀察電阻率突變。

二、匹配測試標(biāo)準(zhǔn)與實驗?zāi)康臉?biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求

規(guī)定絕緣材料高溫電阻測試需在100℃~500℃范圍進(jìn)行。

建議測試溫度至少比材料最高使用溫度高25℃。

功能需求

 ；

若需研究溫度-電阻率曲線，恒溫范圍應(yīng)覆蓋 . 材料最低工作溫度至最高失效溫度（如-70℃~300℃ . ）。

僅需高溫點(diǎn)測試（如150℃質(zhì)量控制），可選單點(diǎn)恒溫機(jī)型。

 ；三、儀器性能關(guān)鍵參數(shù)

溫控范圍與精度

優(yōu)先選擇寬溫域機(jī)型：如 . GDW-500 . （ . -160℃~500℃ . ）或 . HTIM-1000 . （真空/氣氛環(huán)境）。

控溫精度需 . ≤?0.5℃ . （如GDW-500），避免波動導(dǎo)致阻值漂移。

溫場均勻性

樣品區(qū)域溫差應(yīng)<；?2℃，確保薄膜受熱均勻?？赏ㄟ^紅外熱成像驗證設(shè)備溫場分布。

四、操作限制與風(fēng)險規(guī)避

儀器工作環(huán)境約束

多數(shù)電阻率測試儀主機(jī)僅適應(yīng) . 0℃~40℃ . 環(huán)境，高溫測試需外接獨(dú)立溫控腔體（如GDW-500的液氮制冷系統(tǒng)）。

樣品預(yù)處理要求

高溫測試前需在目標(biāo)溫度下恒溫≥30分鐘，消除熱歷史效應(yīng)。

選型推薦表

材料類型 建議恒溫范圍 關(guān)鍵優(yōu)勢

通用塑料薄膜室溫~300℃性價比高，操作簡便

耐高溫薄膜-70℃~500℃寬溫域，液氮制冷，精度?0.5℃

導(dǎo)電/半導(dǎo)體膜真空環(huán)境~600℃鉑電極防氧化，支持氣氛控制

注：極端條件測試（如>；500℃）需定制設(shè)備，并確認(rèn)電極材料（如鉑金）與夾具的耐溫性

 ；

影響電阻率的外界因素

電阻率不僅與材料種類有關(guān)，而且還與溫度、壓力和磁場等外界因素有關(guān)。金屬材料在溫度不高時，ρ與溫度t(℃)的關(guān)系是ρt=ρ0(1 at)，式中ρt與ρ0分別是t℃和0℃時的電阻率；α是電阻率的溫度系數(shù)，與材料有關(guān)。錳銅的α約為1?10-1/℃(其數(shù)值極小)，用其制成的電阻器的電阻值在常溫范圍下隨溫度變化極小，適合于作標(biāo)準(zhǔn)電阻。已知材料的ρ值隨溫度而變化的規(guī)律后，可制成電阻式溫度計來測量溫度。半導(dǎo)體材料的α一般是負(fù)值且有較大的量值。制成的電阻式溫度計具有較高的靈敏度。有些金屬(如Nb和Pb)或它們的化合物，當(dāng)溫度降到幾K或十幾K(絕對溫度)時，ρ突然減少到接近零，出現(xiàn)超導(dǎo)現(xiàn)象，超導(dǎo)材料有廣泛的應(yīng)用前景。利用材料的ρ隨磁場或所受應(yīng)力而改變的性質(zhì)，可制成磁敏電阻或電阻應(yīng)變片，分別被用來測量磁場或物體所受到的機(jī)械應(yīng)力，在工程上獲得廣泛應(yīng)用。

應(yīng)用

電阻率較低的物質(zhì)被稱為導(dǎo)體，常見導(dǎo)體主要為金屬，而自然界中導(dǎo)電性佳的是銀，其次為半導(dǎo)體，硅鍺。當(dāng)存在外電場時，金屬的自由電子在運(yùn)動中不斷和晶格節(jié)點(diǎn)上做熱振子的正離子相碰撞，使電子運(yùn)動受到阻礙，因而就具有了一定的電阻。其他不易導(dǎo)電的物質(zhì)如玻璃、橡膠等，電阻率較高，一般稱為絕緣體。介于導(dǎo)體和絕緣體之間的物質(zhì)(如硅)則稱半導(dǎo)體。電阻率的科學(xué)符號為 ρ(Rho)。 已知物體的電阻，可由電阻率ρ、長度l與截面面積A計算：ρ=RA/I，在該式中， 電阻R單位為歐姆，長度l單位為米，截面面積A單位為平方米，電阻率 ρ單位為歐姆?米

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說明

1．電阻率ρ不僅和導(dǎo)體的材料有關(guān)，還和導(dǎo)體的溫度有關(guān)。在溫度變化不大的范圍內(nèi)：幾乎所有金屬的電阻率隨溫度作線性變化，即ρ=ρo(1 at)。式中t是攝氏溫度，ρo是O℃時的電阻率，a是電阻率溫度系數(shù)。

2．由于電阻率隨溫度改變而改變，所以對于某些電器的電阻，必須說明它們所處的物理狀態(tài)。如一個220 V -100 W電燈燈絲的電阻，通電時是484歐姆，未通電時只有40歐姆左右。

3．電阻率和電阻是兩個不同的概念。電阻率是反映物質(zhì)對電流阻礙作用的屬性，電阻是反映物體對電流阻礙作用的能力大小。

4.超導(dǎo)體的直流電阻率在一定的低溫下突然消失，被稱作零電阻效應(yīng)。導(dǎo)體沒有了電阻。

技術(shù)指標(biāo)

1.電阻測量范圍：0.01?10 4Ω ～1?10 18Ω。

2.電流測量范圍為: 2?10-4A～1?10-16A

3.雙表頭顯示: 3.1/2位LED顯示

4.內(nèi)置測試電壓：10V、50V、100V、250、500、1000V

5.準(zhǔn)確度:準(zhǔn)確度優(yōu)于下表

量程有效顯示范圍20～30℃RH<；80%

104 0.01~19.99 5%

105 0.01～19.99 5%

106 0.01～19.99 5%

107 0.01～19.99 5%

108 0.01～19.99 5%

109 0.01～19.99 5%

1010  ； ； ；0.01～19.99 5% 2字

1011  ； ； ； ；0.01～19.99 5% 2字

1012 0.01～19.99 5% 5字

1013 0.01～19.99 10% 5字

1014 0.01～19.99 10% 5字

1014以上0.01～19.99 10-15% 5字

超出有效顯示范圍時誤差有可能增加，測試電流準(zhǔn)確度與電阻相同，測試電壓準(zhǔn)確度為10%

6使用環(huán)境:溫度：0℃～40℃，相對濕度<；80%

7機(jī)內(nèi)測試電壓: 10/50/100/250/500/1000V任意切換

8.供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約5W

9.儀器尺寸: 285ｍｍ?245ｍｍ?120 mm

10.質(zhì)量:約2.5KG

11  ；測試電壓有六種選擇之多DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；

12  ；使用操作簡便，在任何電阻量程和測試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果，

免去要乘以一個系數(shù)的麻煩，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。

典型應(yīng)用

1.硫化橡膠體積、表面電阻率測定

2.測量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值

3.測量防靜電材料的電阻及電阻率

4.測量計算機(jī)房用活動地板的系統(tǒng)電阻值

5.測量絕緣材料電阻(率)

6.光電二極管暗電流測量

7.物理，光學(xué)和材料研究

8.高分子材料表面體積電阻率測定

附件：

1.一年固保書及中文操作說明書各一份

2.電源線一條

3.測量線三根（屏蔽線、測試接線、接地線）

4.屏壁箱一個

5.固體電極一套

安全注意事項

1.使用前務(wù)必詳閱此說明書，并遵照指示步驟，依次操作。

2.請勿使用非原廠提供之附件，以免發(fā)生危險。

3.進(jìn)行測試時，本儀器測量端高壓輸出端上有直流高壓輸出，嚴(yán)禁人體接觸 ，以免觸電。

4.為避免測試棒本身絕緣泄漏造成誤差，接儀器測量端輸入的測試棒應(yīng)盡可 能懸空，不與外界物體相碰。

5.當(dāng)被測物絕緣電阻值高，且測量出現(xiàn)指針不穩(wěn)現(xiàn)象時，可將儀器測量線屏 蔽端夾子接 上。 例如： 對電 纜測纜 芯與 纜殼的 絕緣 時，除 將被 測物兩 端分 別接于 輸入 端與高壓 端， 再將電 纜殼 ，芯之 間的 內(nèi)層絕 緣物 接儀器 “G”，以消 除因 表面漏 電而 引起的測 量誤 差。也 可用 加屏蔽 盒的 方法， 即將 被測物 置于 金屬屏 蔽盒 內(nèi)，接 上測 量線。

金屬的電阻率較小，合金的電阻率較大，非金屬和一些金屬氧化物更大，而絕緣體的電阻率極大。鍺、硅、硒、氧化銅、硼等的電阻率比絕緣體小而比金屬大，我們把這類材料叫做半導(dǎo)體(semiconductors)。

總結(jié)：常態(tài)下（由表可知）導(dǎo)電性能好的依次是銀、銅、鋁，這三種材料是常用的，常被用來作為導(dǎo)線等。銀的價格偏貴，因此銅用的為廣，幾乎所有應(yīng)用的導(dǎo)線都是銅制作的（精密儀器、特殊場合除外）。鋁線由于化學(xué)性質(zhì)不穩(wěn)定容易氧化已被淘汰。由于鋁密度小，取材廣泛，且價格比銅便宜，被廣泛用于電力系統(tǒng)中傳輸電力的架空輸電線路。為解決鋁材剛性不足缺陷，一般采用鋼芯鋁絞線，即鋁絞線內(nèi)部包有一根鋼線，以提高強(qiáng)度。銀導(dǎo)電性能好，但由于成本高很少被采用，只有在高要求場合才被使用，如精密儀器、高頻震蕩器、航天等。在某些場合儀器上觸點(diǎn)也有用金的，因為金的化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，并不是因為其電阻率小所致。

電阻的作用：

電阻在電路中的作用：利用著名的歐姆定律可以利用電阻控制電路中的電壓、電流。

電阻的主要物理特征就是可以變電能為熱能，因此熱水器中的發(fā)熱元件、電燈泡、電燙斗就是利用了電阻的作用制成的。另外電阻有怕熱的特性，當(dāng)導(dǎo)體材料溫度升高時材料的電阻率會增大（有些材料則表現(xiàn)為減小），因此利用電阻的這種特性可以制作溫度測量計（不知道你看見過沒，插一根“鐵絲”就能測量溫度的方法就是利用了這種電阻材料作用的）。

另外一些材料的電阻還會受到光線照射的印象，而利用這樣的材料可以制成光敏電阻，利用這點(diǎn)作用可以方便的設(shè)計光控電路以及光的測量和光電轉(zhuǎn)換等領(lǐng)域。

使用說明

（一）應(yīng)滿足下例要求：

1、測試電壓范圍應(yīng)包括：100V~500V

2、測量范圍應(yīng)包括：1?106Ω~1?1017Ω

3、阻值大于1012Ω時，測量誤差應(yīng)小于?20%，阻值不大于1012Ω時，測量誤差應(yīng)小于?10%。

4、輸入接線的絕緣電阻應(yīng)大于儀器輸入電阻的100倍。

5、測試時試樣及測量導(dǎo)線應(yīng)有良好。

6、儀器應(yīng)定期進(jìn)行校驗。

（二）準(zhǔn)備工作：

1、取被測液體（如：增塑劑）試樣50ml。

2、試樣應(yīng)在溫度23?2℃，相對濕度65?5%的條件下處理2小時以上。

（三）測試步驟：

1、測試溫度23?2℃，相對濕度65?5%，無外界電磁場干擾環(huán)境中進(jìn)行。

2、測試時對試樣所加電壓為100V~500V的直流電壓，選擇電壓檔次。

3、將試樣倒入高壓電極內(nèi)，使液面剛好和環(huán)電極下緣全部接觸為止。

4、將充分放電后的試樣和電極，按固體（液體）體積及表面電阻率測試儀要求接線。

外電極（高壓電極）接高固體（液體）體積及表面電阻率測試儀的高壓輸出端。

內(nèi)電極（測量電極）接固體（液體）體積及表面電阻率測試儀的測量端。

中電極（環(huán)電極）接固體（液體）體積及表面電阻率測試儀的接地端。

5、儀器預(yù)熱30分鐘，穩(wěn)定后調(diào)整儀器（調(diào)零），加上試驗1分鐘，讀取電阻指示值，然后放電1分鐘，再測試一次，以二次的算術(shù)平均值作為試驗樣品電阻指示值。

（四）計算方法：

按式（1）計算體積電阻系數(shù)（pv），計算結(jié)果取二位有效數(shù)字。

（五）注意事項：

1、測定電極必須放置在高絕緣的墊板上。

2、測定電極在測試前后，均應(yīng)做好清洗工作，特別是三只電極的支撐件不得受到試樣的污染

主要產(chǎn)品有：

拉力試驗機(jī)， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；塑料球壓痕硬度計

維卡熱變形試驗儀， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；體積表面電阻率測試儀

海綿泡沫落球回彈試驗機(jī)， ； ； ； ； ； ； ； ； ；海綿泡沫拉伸強(qiáng)度試驗機(jī)

耐壓試驗機(jī)，  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；介電常數(shù)測試儀

海綿泡沫壓陷硬度測驗儀， ； ； ； ； ； ； ； ； ；介質(zhì)損耗測試儀

海綿泡沫疲勞壓陷試驗機(jī)， ； ； ； ； ； ； ； ； ；薄膜沖擊試驗機(jī)

熔融指數(shù)儀， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；無轉(zhuǎn)子硫化儀

電壓擊穿試驗儀， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；摩擦系數(shù)儀

低溫脆性沖擊試驗儀 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；阿克隆磨耗試驗機(jī)等。