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    國產(chǎn)高頻Q表介電常數(shù)測量儀

    國產(chǎn)高頻Q表介電常數(shù)測量儀

    價格:40000元瀏覽:82次聯(lián)系:劉圓圓 / 18932620538 / 企業(yè):河北紅日儀器設備有限公司留言店鋪收藏

    國產(chǎn)高頻Q表介電常數(shù)測量儀 ; 玻璃的損耗

    復雜玻璃中的介質(zhì)損耗主要包括三個部分:電導耗、松弛損耗和結(jié)構(gòu)損耗。哪一種損耗占優(yōu)勢,取決于外界因素溫度和電場頻率。高頻和高溫下,電導損耗占優(yōu)勢:在高頻下,主要的是由弱聯(lián)系離子在有限范圍內(nèi)移動造成的松弛損耗:在高頻和低溫下,主要是結(jié)構(gòu)損耗,其損耗機理目前還不清楚,可能與結(jié)構(gòu)的緊密程度有關(guān)。般來說,簡單玻璃的損耗是很小的,這是因為簡單玻璃中的“分子”接近規(guī)則的排列,結(jié)構(gòu)緊密,沒有弱聯(lián)系的松弛離子。在純玻璃中加人堿金屬化物后。介質(zhì)損耗大大增加,并且隨著加人量的增大按指數(shù)規(guī)律增大。這是因為堿性氧化物進人玻璃的點陣結(jié)構(gòu)后,使離子所在處點陣受到破壞,結(jié)構(gòu)變得松散,離子活動性增大,造成電導損耗和松弛損耗增加。

    國產(chǎn)高頻Q表介電常數(shù)測量儀 ; 日常生活應用?

    00001. ;?音響設備維修?

    ? ;?案例?:檢測老化電阻阻值,精準替換損壞元件恢復音質(zhì)1。

    00002. ;?電子秤應變檢測?

    ? ;?原理?:應變片構(gòu)成惠斯通電橋一臂,形變導致電阻變化,輸出重量信號。

    ? ;?場景?:超市計價秤、工廠物料配比系統(tǒng)。

    電容測量

    A

    C

    直接測量范圍

    1~460p

    1~205p

    主電容調(diào)節(jié)范圍

    40~500pF

    18~220pF

    準確度

    150pF以下?1.5pF;

    150pF以上?1%

    150pF以下?1.5pF

    150pF以上?1%

     ; ; ;注:大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。

    工作條件

     ; ; a. ;環(huán)境溫度:0℃~ 40℃;

     ; ; ;b.相對濕度:<;80%;

     ; ; ;c.電源:220V?22V,50Hz?2.5Hz。

    使用方法

    高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。

    1.測試注意事項

    a.本儀器應水平安放;

    b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;

    c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,當接近諧振點時請緩調(diào);

    d.被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;

    e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

    f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。

    2.高頻線圈的Q值測量(基本測量法)

    電感:

    線圈號 ; ; ;測試頻率 ; ; ;Q值  ; ; ;分布電容p  ; ; ; ; ; ;電感值  ;

     ; ;9  ; ; ; ; ; ; ; ;100KHz  ; ; ; ; ;98  ; ; ; ; ; ;9.4  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;25mH

     ; ;8  ; ; ; ; ; ; ; ;400KHz  ; ; ; ;138  ; ; ; ; ; ;11.4  ; ; ; ; ; ; ;4.87mH

     ; ;7  ; ; ; ; ; ; ; ;400KHz  ; ; ;202  ; ; ; ; ; ;16  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;0.99mH

     ; ;6  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;1MHz  ; ; ; ;196  ; ; ; ; ; ;13  ; ; ; ; ; ; ; ; ;252μH

     ; ;5  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;2MHz  ; ; ; ;198  ; ; ; ; ; ;8.7  ; ; ; ; ; ; ;49.8μH

     ; ;4  ; ; ; ; ; ; ; ;4.5MHz  ; ; ;231  ; ; ; ; ; ;7  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;10μH

     ; ;3  ; ; ; ; ; ; ; ; ;12MHz  ; ; ; ; ;193  ; ; ; ;6.9  ; ; ; ; ; ; ; ;2.49μH

     ; ;2  ; ; ; ; ; ; ; ; ;12MHz  ; ; ; ; ;229  ; ; ; ;6.4  ; ; ; ; ; ; ;0.508μH  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;

     ; ;1  ; ;25MHz,50MHz  ; ;233,211  ; ; ;0.9  ; ; ; ; ; ;0.125μH

    ?電橋法和諧振法的區(qū)別:電橋法主要在中提到,核心是通過橋路平衡原理測量相位差,適合中低頻段測試。諧振法在描述較多,利用LC回路諧振特性,更適合高頻場景。用戶可能特別關(guān)注應用場景的區(qū)別,這在實際工作中很重要。比如電力設備檢測常用電橋法(如西林電橋),而高頻電路基板測試可能選諧振法。需要強調(diào)頻率適用性這個關(guān)鍵差異點。 ;注意到提到兩種方法在測量誤差來源上也有本質(zhì)區(qū)別:電橋法受雜散電容影響大,諧振法更怕頻率波動。這點對用戶評估測量精度應該很有價值。 ;準備用對比表格呈現(xiàn)核心差異,從原理到應用場景全面覆蓋。表格后補充典型應用示例會更直觀,比如電力絕緣子測試(電橋法)和微波介質(zhì)諧振器測試(諧振法)的具體場景。

    高分子材料的損耗

    高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類。一般地,偶極矩在0~0.5D(德拜)范圍內(nèi)的是非極性高聚物;偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,其介電常數(shù)約為2,介質(zhì)損耗小于10-4;極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,并且極性愈大,這兩個值愈高。

    高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團的取向,因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子,雖然這種高聚物的極性很強,但只要固化比較完全,它的介質(zhì)損耗就不高。相反,支化使分子鏈間作用力減弱,分子鏈活動能力增強,介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。

    高聚物的凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)及力學狀態(tài)對介電性景響也很大。結(jié)品能抑制鏈段上偶極矩的取向極化,因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結(jié)晶度升高而下降。當高聚物結(jié)晶度大于70%時,鏈段上的偶極的極化有時完全被抑制,介電性能可降至最低值,同樣的道理,非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外,高聚物中的增塑利、雜質(zhì)等對介電性能也有很大景響。

    形式

    各種不同形式的損耗是綜合起作用的。由于介質(zhì)損耗的原因是多方面的,所以介質(zhì)損耗的形式也是多種多樣的。介電損耗主要有以下形式:

    1)漏導損耗

    實際使用中的絕緣材料都不是完善的理想的電介質(zhì),在外電場的作用下,總有一些帶電粒子會發(fā)生移動而引起微弱的電流,這種微小電流稱為漏導電流,漏導電流流經(jīng)介質(zhì)時使介質(zhì)發(fā)熱而損耗了電能。這種因電導而引起的介質(zhì)損耗稱為“漏導損耗”。由于實阿的電介質(zhì)總存在一些缺陷,或多或少存在一些帶電粒子或空位,因此介質(zhì)不論在直流電場或交變電場作用下都會發(fā)生漏導損耗。

    2)極化損耗

    在介質(zhì)發(fā)生緩慢極化時(松弛極化、空間電荷極化等),帶電粒子在電場力的影響下因克服熱運動而引起的能量損耗。

      一些介質(zhì)在電場極化時也會產(chǎn)生損耗,這種損耗一般稱極化損耗。位移極化從建立極化到其穩(wěn)定所需時間很短(約為10-16~10-12s),這在無線電頻率(5?1012Hz以下)范圍均可認為是極短的,因此基本上不消耗能量。其他緩慢極化(例如松弛極化、空間電荷極化等)在外電場作用下,需經(jīng)過較長時間(10-10s或更長)才達到穩(wěn)定狀態(tài),因此會引起能量的損耗。

    若外加頻率較低,介質(zhì)中所有的極化都能完全跟上外電場變化,則不產(chǎn)生極化損耗。若外加頻率較高時,介質(zhì)中的極化跟不上外電場變化,于是產(chǎn)生極化損耗。

    3)電離損耗

      電離損耗(又稱游離損耗)是由氣體引起的,含有氣孔的固體介質(zhì)在外加電場強度超過氣孔氣體電離所需要的電場強度時,由于氣體的電離吸收能量而造成指耗,這種損耗稱為電離損耗。

    4)結(jié)構(gòu)損耗

    在高頻電場和低溫下,有一類與介質(zhì)內(nèi)鄰結(jié)構(gòu)的緊密度密切相關(guān)的介質(zhì)損耗稱為結(jié)構(gòu)損耗。這類損耗與溫度關(guān)系不大,耗功隨頻率升高而增大。

    試驗表明結(jié)構(gòu)緊密的晶體成玻璃體的結(jié)構(gòu)損耗都很小,但是當某此原因(如雜質(zhì)的摻入、試樣經(jīng)淬火急冷的熱處理等)使它的內(nèi)部結(jié)構(gòu)松散后。其結(jié)構(gòu)耗就會大大升高。

    5)宏觀結(jié)構(gòu)不均勾性的介質(zhì)損耗

    工程介質(zhì)材料大多數(shù)是不均勻介質(zhì)。例如陶瓷材料就是如此,它通常包含有晶相、玻璃相和氣相,各相在介質(zhì)中是統(tǒng)計分布口。由于各相的介電性不同,有可能在兩相間積聚了較多的自由電荷使介質(zhì)的電場分布不均勻,造成局部有較高的電場強度而引起了較高的損耗。但作為電介質(zhì)整體來看,整個電介質(zhì)的介質(zhì)損耗必然介于損耗最大的一相和損耗最小的一相之間。

    頻率范圍

    10kHz~50MHz

    頻率分段

    (虛擬)

    10~99.9999kHz

    100~999.999kHz

    1~9.99999MHz

    10~60MHz  ; ; ;

    為什么介電常數(shù)越大,絕緣能力越強 .

    因為物質(zhì)的介電常數(shù)和頻率相關(guān),通常稱為介電系數(shù)。

    介電常數(shù)又叫介質(zhì)常數(shù),介電系數(shù)或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個系數(shù)。所以理論上來說,介電常數(shù)越大,絕緣性能就越好。

    注:這個性質(zhì)不是絕對成立的。

    對于絕緣性不太好的材料(就是說不擊穿的情況下,也可以有一定的導電性)和絕緣性很好的材料比較,這個結(jié)論是成立的。

    但對于兩個絕緣體就不一定了。

    介電常數(shù)反映的是材料中電子的局域(local)特性,導電性是電子的全局(global)特征.不是一回事情的。

    補充:

     ;

    電介質(zhì)經(jīng)常是絕緣體。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各種金屬氧化物。有些液體和氣體可以作為好的電介質(zhì)材料。干空氣是良好的電介質(zhì),并被用在可變電容器以及某些類型的傳輸線。蒸餾水如果保持沒有雜質(zhì)的話是好的電介質(zhì),其相對介電常數(shù)約為80。

     ;

    對于時變電磁場,物質(zhì)的介電常數(shù)和頻率相關(guān),通常稱為介電系數(shù)。介電常數(shù)又叫介質(zhì)常數(shù),介電系數(shù)或電容率,它是表示絕緣能力特性的一個系數(shù)。

    電橋測量靈敏度

     ; ; ; ;電橋在使用過程中,靈敏度直接影響電橋平衡的分辨程度,為保證測量準確度,

    希望電橋靈敏度達到一定的水平。通常情況下電橋靈敏度與測量電壓,標準電容量

    成正比。

     ;

     ; ; ; ;在下面的計算公式中,用戶可根據(jù)實際使用情況估算出電橋靈敏度水平,在這

    個水平上的電容與介質(zhì)損耗因數(shù)的微小變化都能夠反應出來。

     ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1 Rg/R4 Cn/Cx)  ; ;

     ; ; ; ; ; ; ; ; ;式中:U為測量電壓 ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;伏特(V)

    ω為角頻率2pf=314(50Hz)  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;

     ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;Cn標準電容器容量 ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;皮法(pF)

     ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;Ig通用指另儀的電流5X10-10  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;安培(A)

     ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;Rg平衡指另儀內(nèi)阻約1500  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;歐姆(W)

     ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;R4橋臂R4電阻值3183  ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;歐姆(W)

     ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;Cx被測試品電容值 ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;皮法(pF)

    介電常數(shù),用于衡量絕緣體儲存電能的性能.它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質(zhì)時的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質(zhì)或真空時的電容量之比。介電常數(shù)代表了電介質(zhì)的極化程度,也就是對電荷的束縛能力,介電常數(shù)越大,對電荷的束縛能力越強。電容器兩極板之間填充的介質(zhì)對電容的容量有影響,而同一種介質(zhì)的影響是相同的,介質(zhì)不同,介電常數(shù)不同。

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