產(chǎn)品

高溫四探針電阻率測試儀廠家 ；  ；高溫四探針電阻率測試儀廠家

一.概述：

采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

二.適用行業(yè)：:

用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

雙電測四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測試方法并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。

三.型號及參數(shù)：

特點(diǎn)：

●電阻最?精度：0.01%，最小分辨率0.1uΩ；

●方電阻精度：1%，最小分辨率：0.1uΩ；

●雙電測原理，提?精度和穩(wěn)定性；

●測試探頭直排和矩形可選；

●標(biāo)配RS232、LAN、IO、通訊接?；

●可配戴軟件查看和記錄測試數(shù)據(jù)；

 ；

高溫塑料薄膜電阻率測定儀

首先和提到儀器的工作溫度范圍通常是0-40℃，但用戶要的是高溫測定儀。儀器標(biāo)注了"高低溫"測試能力，雖然具體溫度值沒寫，但既然能叫高低溫測試儀，應(yīng)該能滿足基本高溫需求。

技術(shù)參數(shù)方面，這些儀器共性很強(qiáng)：電阻測量范圍都在10^4到10^18歐姆（見），測試電壓標(biāo)配多檔位（10V-1000V可調(diào)），精度普遍在1%-5%之間。特別注意到的BEST-212型用了觸摸屏，操作可能更便捷。

用戶可能需要關(guān)注測量標(biāo)準(zhǔn)。和都強(qiáng)調(diào)符合GB/T 1410-2006和ASTM D257標(biāo)準(zhǔn)，這對出具權(quán)威報(bào)告很重要。

另外所有儀器都提到要配合專用電極夾具（），買的時(shí)候別忘了確認(rèn)薄膜夾具是否另購。

以下是針對高溫塑料薄膜電阻率測定儀的關(guān)鍵信息匯總：

. . 核心功能要求

. 高溫測試能力 .

. 技術(shù)參數(shù)范圍 .

. 電阻測量 . ：覆蓋范圍廣（0.01?10 . Ω ~ 1?101 . Ω），滿足絕大多數(shù)絕緣材料測試需求。

. 測試電壓 . ：內(nèi)置多檔直流電壓（10V/50V/100V/250V/500V/1000V），可自由切換。

. 精度 . ：基本準(zhǔn)確度達(dá)?1%，高阻值段（>；1012Ω）誤差?20%以內(nèi)。

. 電流檢測 . ：可測微弱電流（2?10 . . A ~ 1?10 . 1 . A）。

. . 測試標(biāo)準(zhǔn)與適用性

. 符合標(biāo)準(zhǔn) . ：GB/T 1410-2006、ASTM D257，適用于防靜電產(chǎn)品（鞋、橡膠制品）、絕緣材料及電子器件的電阻檢測。

. 試樣要求 . ：需搭配專用電極夾具，薄膜類試樣直徑建議>；100mm（不足需定制電極）。

. 用戶選擇適合的高溫塑料薄膜電阻率測定儀。這個(gè)問題涉及專業(yè)設(shè)備選型，得仔細(xì)分析搜索結(jié)果的各項(xiàng)參數(shù)和功能。

關(guān)于測量原理，不同方法各有優(yōu)劣：三電極法符合GB/T 10518標(biāo)準(zhǔn)，適合絕緣材料；四探針法對薄膜類更精準(zhǔn)但要求樣品平整。

技術(shù)參數(shù)方面有幾個(gè)重點(diǎn)：電阻范圍需覆蓋10 . ~101 . Ω，電流檢測要低至10 . 1 . A。電壓檔位最好有10-1000V多檔調(diào)節(jié)，精度方面高阻值段(>；1012Ω)允許?20%誤差是行業(yè)常態(tài)。

使用便捷性也不能忽視。試樣處理環(huán)節(jié)很重要，直徑小于100mm可能需要定制電極。

特別提醒用戶注意多數(shù)設(shè)備環(huán)境溫度限值40℃，真正的"高溫"功能需單獨(dú)確認(rèn)，比如三環(huán)電極法的真空加熱系統(tǒng)。

最后想到兩個(gè)易遺漏點(diǎn)：一是電阻測試必須配合高溫試驗(yàn)臺使用；二是表面電阻和體積電阻的測量順序不能顛倒。這些實(shí)操細(xì)節(jié)要在建議里強(qiáng)調(diào)。

根據(jù)高溫塑料薄膜的測試需求（溫度適應(yīng)性、測量精度、樣品兼容性等），以下是選型要點(diǎn)：

. 一、核心選型要素 .

. 測量原理與精度 .

. 三電極法 . ：符合 . GB/T 10518-2006 . 標(biāo)準(zhǔn)，適合絕緣材料高溫電阻率測試。

. 四探針法 . ：適用于薄膜類材料，可測方塊電阻和電阻率，支持溫度-電阻曲線分析。

. 電阻范圍 . ：至少覆蓋 . 10 . ~101 . Ω . ，高阻值段（>；1012Ω）誤差需≤?20%。

. 樣品兼容性 .

. 夾具要求 . ：薄膜樣品直徑應(yīng)≥100mm（不足需定制電極）。

. 測試方式 . ：表面電阻與體積電阻需分開測量，且必須先測表面電阻。

. 二、推薦對比 .

. . 溫度范圍 . . 測量原理 . . 關(guān)鍵優(yōu)勢 . . 適用標(biāo)準(zhǔn) .

. -160℃~500℃三電極法支持介質(zhì)損耗/介電常數(shù)測試，控溫精度?0.5℃GB/T 1409、ASTM D150

. 高溫真空/氣氛環(huán)境三環(huán)電極法鉑導(dǎo)線防信號衰減，觸摸屏操作便捷GB/T 10518、ASTM

高溫箱集成四探針法自動繪制溫度-電阻率曲線，適合導(dǎo)電薄膜分析半導(dǎo)體材料標(biāo)準(zhǔn)

. 未明確高溫范圍11通用法觸控操作，支持固體/液體/薄膜，  ； ；GB/T 1410、ASTM D25711

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. 三、操作注意事項(xiàng) .

. 試樣預(yù)處理 . ：確保薄膜表面平整、無損傷，避免雜質(zhì)干擾。

. 環(huán)境控制 . ：多數(shù)儀器工作環(huán)境為0℃~40℃ . . . ，高溫測試需外接溫控設(shè)備。

. 數(shù)據(jù)校準(zhǔn) . ：定期校驗(yàn)儀器，高阻值（>；1012Ω）段需重點(diǎn)驗(yàn)證精度。

什么是電阻率 .

　　電阻跟導(dǎo)體的材料、橫截面積、長度有關(guān)。

　　導(dǎo)體的電阻與兩端的電壓以及通過導(dǎo)體的電流無關(guān)。

導(dǎo)體電阻跟它長度成正比，跟它的橫截面積成反比．

說明

　?、匐娮杪师巡粌H和導(dǎo)體的材料有關(guān)，還和導(dǎo)體的溫度有關(guān)。在溫度變化不大的范圍內(nèi)，幾乎所有金屬的電阻率隨溫度作線性變化，即ρ=ρo(1 at)。式中t是攝氏溫度，ρo是O℃時(shí)的電阻率，a是電阻率溫度系數(shù)。

　?、谟捎陔娮杪孰S溫度改變而改變，所以對于某些電器的電阻，必須說明它們所處的物理狀態(tài)。如一個(gè)220V

　　100W電燈燈絲的電阻，通電時(shí)是484歐姆，未通電時(shí)只有40歐姆左右。

　?、垭娮杪屎碗娮枋莾蓚€(gè)不同的概念。電阻率是反映物質(zhì)對電流阻礙作用的屬性，電阻是反映物體對電流阻礙作用的屬性。

電阻率的測量方法和精度

　　1、方法：測量高電阻常用的方法是直接法和比較法.

　　直接法是測量加在試樣上的直流電壓和流過試樣的電流而求得試樣電阻.直接法主要有檢流計(jì)法和直流放大法（高阻計(jì)法）比較法主要有檢流計(jì)法和電橋法.

　　2、精度：對于大于10的10Ω的電阻，儀器誤差應(yīng)在?20%的范圍內(nèi)；對于不大于10的10Ω的電阻，儀器誤差應(yīng)在?10%的范圍內(nèi).

　　3、保護(hù)：測量儀器用的絕緣材料一般只具有與被測材料差不多的性能.試樣的測試誤差可以由下列原因產(chǎn)生：

　?、偻鈦砑纳妷阂鸬碾s散電流通渠道.通常不知道它的大小，并且有漂移的特點(diǎn)；

　?、跍y量線路的絕緣材料與試樣電阻標(biāo)準(zhǔn)電阻器或電流測量裝置的并聯(lián).

高溫塑料薄膜電阻率測定儀恒溫范圍選擇方法

鉑薄膜RTD最高可測850℃，但塑料薄膜基材通常承受不了這么高溫度。這說明恒溫范圍選擇要先考慮材料耐溫性，而非儀器極限值。比如聚酰亞胺薄膜通常不超過400℃，而PE薄膜測試溫度可能只需80-120℃。

需要分三個(gè)維度建議：材料特性（分解溫度/相變點(diǎn)）、測試目的（質(zhì)量控制/科研）、環(huán)境要求（氣氛保護(hù)）。尤其要提醒用戶注意GB/T 1410標(biāo)準(zhǔn)中要求的預(yù)處理溫度和時(shí)間，這些都會影響恒溫范圍設(shè)定。

選擇高溫塑料薄膜電阻率測定儀的恒溫范圍需綜合材料特性、測試標(biāo)準(zhǔn)及儀器性能，具體方法如下：

 ；一、根據(jù)材料特性選擇材料耐溫上限 .

常見塑料薄膜（如PI、PET、PEI）的軟化點(diǎn)通常為 . 200℃~400℃ . ，測試溫度應(yīng)低于材料分解溫度 . 20~50℃ . ，避免形變或性能劣化影響數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。

例如：聚酰亞胺（PI）薄膜建議恒溫范圍 . ≤350℃ . 。

. 相變點(diǎn)或玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg） .

測試溫度需覆蓋材料關(guān)鍵相變點(diǎn)（如Tg、熔點(diǎn)），例如研究導(dǎo)電薄膜時(shí)需包含 . 室溫~200℃ . 區(qū)間以觀察電阻率突變。

二、匹配測試標(biāo)準(zhǔn)與實(shí)驗(yàn)?zāi)康臉?biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求 .

GB/T 10518-2006規(guī)定絕緣材料高溫電阻測試需在 . 100℃~500℃ . 范圍進(jìn)行。

ASTM D257建議測試溫度至少比材料最高使用溫度高 . 25℃ . 。

. 功能需求 .

若需研究溫度-電阻率曲線，恒溫范圍應(yīng)覆蓋 . 材料最低工作溫度至最高失效溫度 . （如 . -70℃~300℃ . ）。

僅需高溫點(diǎn)測試（如150℃質(zhì)量控制），可選單點(diǎn)恒溫機(jī)型。

. . . 三、儀器性能關(guān)鍵參數(shù)

. 溫控范圍與精度 .

優(yōu)先選擇寬溫域機(jī)型：如 . GDW-500 . （ . -160℃~500℃ . ）或 . HTIM-1000 . （真空/氣氛環(huán)境）。

控溫精度需 . ≤?0.5℃ . （如GDW-500），避免波動導(dǎo)致阻值漂移。

. 溫場均勻性 .

樣品區(qū)域溫差應(yīng) . <；?2℃ . ，確保薄膜受熱均勻?？赏ㄟ^紅外熱成像驗(yàn)證設(shè)備溫場分布。

四、操作限制與風(fēng)險(xiǎn)規(guī)避

. 儀器工作環(huán)境約束 .

多數(shù)電阻率測試儀主機(jī)僅適應(yīng) . 0℃~40℃ . 環(huán)境，高溫測試需外接獨(dú)立溫控腔體（如GDW-500的液氮制冷系統(tǒng)）。

. 樣品預(yù)處理要求 .

高溫測試前需在目標(biāo)溫度下恒溫 . ≥30分鐘 . ，消除熱歷史效應(yīng)。

. . 選型推薦表

. 材料類型 . . 建議恒溫范圍 . . . . 關(guān)鍵優(yōu)勢 .

. 通用塑料薄膜 . 室溫~300℃性價(jià)比高，操作簡便

. 耐高溫薄膜 . -70℃~500℃寬溫域，液氮制冷，精度?0.5℃

. 導(dǎo)電/半導(dǎo)體膜 . 真空環(huán)境~600℃鉑電極防氧化，支持氣氛控制

. 注 . ：極端條件測試（如>；500℃）需定制設(shè)備，并確認(rèn)電極材料（如鉑金）與夾具的耐溫性