供應

PID形成原因

組件PID效應是電池組件長期在直流側(cè)系統(tǒng)的高電壓作用下，導致玻璃、封裝材料之間出現(xiàn)漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，電池組件的填充因子、開路電壓、短路電流減少，導致組件性能衰減，幾端情況下，PID效應會導致組件50%以上的功率損失，影響整個組串功率輸出

在高溫高濕環(huán)境下（ 85?C 和 85%RH  ）給組件內(nèi)部帶電體與邊框之間施加等于組件最大系統(tǒng)額定電壓(?1000V或?1500V)的電壓偏差，當內(nèi)部光伏電路相對于地面為負偏壓時，框架和電池之間的電壓可導致玻璃中的鈉離子向電池表面漂移形成的漏電流,就會通過邊框或安裝支架流入大地，從而出現(xiàn)PID效應，光伏組件PID測試高壓電源認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；

PID測試儀器組成

測試所需主要儀器為：

步入式環(huán)境測試箱；

絕緣耐壓測試儀；

接地連續(xù)性測試儀；

PID測試直流電壓源；

HALM太陽模擬器（AAA 級）；

EL測試儀等。

PID測試的標準

PID 測試標準引自 IEC 62804 （Draft）

根據(jù)IEC61730-2 MST  01進行外觀檢測；

根據(jù)IEC61215第二版進行蕞大功率測試

根據(jù)IEC61215第二版條目10.15進行濕漏電流測試；

如果組件有裸露的導電部位，則要根據(jù)IEC61730-2   MST13進行接地連續(xù)性測試。

PID測試連線圖以及測試電源要求

光伏組件PID測試高壓電源需求

電源電壓：-1500V～0V/   0～ 1500V

電源時漂：≤0.3%/h

電源溫漂：≤0.5‰/℃

電源紋波：≤0.5%

電流范圍：1～1000 uA /-1000   uA～-1

試驗時間：0～168h

普賽斯儀表光伏組件PID測試高壓電源優(yōu)勢：

1、支持恒壓測流模式

2、蕞大電壓高達3500V

3、最小電流低至1nA；詳詢一八一四零六六三四七六；