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inTEST 搭配 Keysight 進(jìn)行功率器件溫度測(cè)試
上海伯東美國(guó) inTEST 熱測(cè)產(chǎn)品搭配 Keysight 機(jī)臺(tái), 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 溫度測(cè)試解決方案. Keysight 機(jī)臺(tái)完美兼容 inTEST 軟件, 操作簡(jiǎn)單.

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功率器件溫度測(cè)試案例一:
inTEST Thermal Plate 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室溫至 250℃ 溫度測(cè)試.

通用軟件, 操作簡(jiǎn)單, 只需將待測(cè)器件放置在 Thermal Plate 上即可.

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功率器件溫度測(cè)試案例二:
inTEST ThermalStream 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)搭配 B150XA 系統(tǒng), 提供 -50℃~250℃ 的溫度測(cè)試環(huán)境.
測(cè)試時(shí), 只需將待測(cè)功率器件放置在高低溫測(cè)試機(jī)測(cè)試罩內(nèi)即可. 如果未連接測(cè)試腔, 則測(cè)試器件可能會(huì)因熱空氣或冷凝水而損壞. 連接到測(cè)試設(shè)備和 Thermostream 的熱防護(hù)罩解決了這個(gè)問題, 可進(jìn)行準(zhǔn)確. 可靠和可重復(fù)的溫度特性測(cè)試.

inTEST ThermalStream 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)搭配 Keysight B150XA 系統(tǒng)評(píng)估 -50?C 至 250?C 溫度范圍內(nèi)的功率器件特性, 是半導(dǎo)體器件制造商中比較通用的測(cè)試手段, 只要將熱流罩放置于測(cè)試腔之上, 就可以在開放環(huán)境中快速進(jìn)行檢測(cè).

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